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内标法是仪器分析校正方法之一,该方法可以克服或减少仪器或方法的不足等引起的随机误差或系统误差。


参考答案

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考题 可以减少偶然误差的方法是() A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数

考题 减少分析测定中偶然误差的方法为( )。A 进行空白试验B 增加平行试验次数C 采用标准对照法D 进行分析结果校正E 对仪器进行校准

考题 在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是( )A.增加平行试验的次数B.进行对照实验C.进行空白试验D.进行仪器的校正

考题 下列方法中( )可以减少分析中的偶然误差。A.进行空白试验B.进行对照试验C.仪器进行校正D.增加平行测定次数

考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

考题 下列方法中可以减少分析方法偶然误差的是A.增加平行测定次数 B.进行分析结果校正 C.进行对照实验 D.进行空白试验 E.进行仪器校准

考题 仪器误差可以用对照试验的方法来校正

考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

考题 滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效可通过()方法检验。A、仪器校正B、对照分析C、空白试验D、无合适方法

考题 减少分析测定中偶然误差的方法为() 。A、 进行对照试验;B、 进行空白试验;C、 进行仪器校正;D、增加平行试验次数。

考题 利用校正仪器的波速度方法,可以检查电缆导体的连续性。

考题 下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

考题 在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是()。A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器的校正

考题 化学分析方法是仪器分析的(),是用以校正仪器()所依赖的方法。

考题 用对照分析法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。()

考题 滴定分析时,若所用试剂或水中含有被测组分,一般通过()方法进行扣除。A、仪器校正B、对照分析C、空白实验D、多次测定

考题 在测量未知样品前必须用()校正分析方法和仪器设备。

考题 下列方法中()可以减少分析中的偶然误差。A、进行空白试验B、进行对照试验C、仪器进行校正D、增加平行测定次数

考题 下列方法中,属于原子光谱定量分析方法的是()A、校正曲线法B、标准加入法C、内标法D、以上都是

考题 消除试剂误差的方法是()。A、对照实验B、校正仪器C、选则合适的分析方法D、空白试验

考题 用于减少测定过程中的偶然误差的方法是()。A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校正D、增加平行试验次数E、进行分析结果校正

考题 检验分析方法是否存在系统误差的方法是()。A、空白试验B、回收试验C、增加测定次数D、对各种仪器进行校正

考题 在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器校正

考题 用测量法来鉴定摩托车零件时,()。A、测量前不用检查和校正量具或仪器B、测量前应检查和校正量具或仪器C、测量中检查和校正量具或仪器D、测量后检查和校正量具或仪器

考题 下列哪种方式,可以减少分析方法的偶然误差()A、进行对照实验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、进行分析结果校正E、增加平行测定次数

考题 单选题用测量法来鉴定摩托车零件时,()。A 测量前不用检查和校正量具或仪器B 测量前应检查和校正量具或仪器C 测量中检查和校正量具或仪器D 测量后检查和校正量具或仪器

考题 多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A增加平行试验的次数B进行对照实验C进行空白试验D进行仪器校正