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有关特征X线的解释,错误的是()

  • A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果
  • B、特征X线的质与高速电子的能量有关
  • C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定
  • D、靶物质原子序数较高特性X线的能量大
  • E、70kVp以下不产生K系特征X线

参考答案

更多 “有关特征X线的解释,错误的是()A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质与高速电子的能量有关C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特性X线的能量大E、70kVp以下不产生K系特征X线” 相关考题
考题 有关特征X线的解释,错误的是A.是高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B.特征X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数较高特性X线的能量大E.70kVp以下不产生钨的K系特征X线

考题 有关X线发生效率的解释,错误的是A.与管电压有关B.与管电流有关C.与靶物质的原子序数成正比D.诊断用X线的发生效率为30%E.与特征X线的波长无关

考题 有关特征X线的解释,错误的是( )。A.特征X线是高速电子与靶物质原子的轨道电子相互作用的结果B.特征X线产生的X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长,由跃迁的电子能量差所决定D.靶物质原子序数较高时,特征X线的能量就大E.管电压70kVp以下,不产生K系特征X线

考题 下列与X线的质和量有关的叙述中,错误的是( )。A.X线强度受管电压、管电流、靶物质及高压波形的影响B.X线强度与管电压的平方成正比C.管电流越大,产生的X线光子数就越多D.对特征X线来说,靶物质的原子序数决定产生特征X线的量E.整流后的脉动电压越接近峰值,其X线强度越大

考题 有关特征X线的解释,错误的是A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质与高速电子的能量有关C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特征X线的能量大E、70kVp以下不产生K系特征X线

考题 有关特征X线的解释,下列错误的是 A.高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B.特征X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数较高特征X线的能量大E.70kVP以下不产生K系特征X线

考题 有关特征X线的叙述,错误的是 A.高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B.特征X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数较高,特征X线的能量大E.70kVP以下不产生K系特征X线

考题 有关特征X线的解释,错误的是A.高速电子与靶物质内层轨道电子作用的结果B.特征X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数高则特征X线的能量大E.K系特征X线的强度与管电流成正比

考题 有关X线发生效率的叙述,错误的是A.与管电压有关B.与管电流有关C.与靶物质的原子序数成正比D.诊断用X线的发生效率为30%E.与特征X线的波长无关

考题 关于特征X线的叙述,错误的是A、X线波长仅与管电压有关B、内层轨道电子发射出的X线为特征放射C、X射线谱是连续能量谱D、电压升高特征放射能量增加E、管电压升高特征射线的百分比减少

考题 关于X线发生效率的解释,错误的是A、与管电压有关B、与管电流有关C、与靶物质的原子序数成正比D、X线的发生效率为30%E、与特征X线的波长无关

考题 对特征X线的叙述,错误的是A、特征X线又称标识X线B、叠加在连续X线谱上C、波长为一定数值的X线D、代表一些强度较强的X线E、是高速电子与靶原子核作用的结果

考题 有关特征X线的解释,错误的是A.是高速电子与靶物质原子的内层轨道电子相互作用的结果B.特征放射产生的X线的质与高速电子的能量有关C.其波长,由跃迁的电子能量差所决定D.靶物质原子序数较高时,特征X线的能量就大E.钨靶在70kVp以下不产生K系特征X线

考题 关于X线发生效率的叙述,错误的是A.与管电压有关B.与管电流有关C.与靶物质的原子序数成正比D.与特征X线的波长无关E.诊断用X线的发生效率为30%

考题 关于特征X线的叙述,正确的是A.X线波长仅与管电压有关射线B.X射线谱是连续能量谱SXB 关于特征X线的叙述,正确的是A.X线波长仅与管电压有关射线B.X射线谱是连续能量谱C.电压升高特征放射能量增加D.管电压升高特征射线的百分比减少

考题 关于X线发生效率的解释,错误的是A.与管电压有关 B.与管电流有关 C.与靶物质的原子序数成正比 D.X线的发生效率为30% E.与特征X线的波长无关

考题 关于特征X线的叙述,正确的是A.X线波长仅与管电压有关 B.管电压升高特征射线的百分比减少 C.外层轨道电子跃迁产生X线为特征X线 D.电压升高特征放射能量增加 E.X射线谱是连续能量谱

考题 有关特征x线的解释,错误的是A.是高速电子与靶物质轨道电子作用的结果 B.特征x线的质与高速电子的能量有关 C.医用X线主要使用连续辐射,但在物质结构的光谱分析中使用特征辐射 D.靶物质原子序数较高特性x线的能量大 E.70kVp以下不产生钨的K系特征X线

考题 关于X线发生效率的叙述,错误的是()A、与管电压有关B、与管电流有关C、与靶物质的原子序数成正比D、与特征X线的波长无关E、诊断用X线的发生效率为30%

考题 高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱,形成空穴。此时,外层(高能级)轨道电子向内层(低能级)空穴跃迁,释放能量,产生X线,称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定,与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时,电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱,故不能产生K系特征X线。 有关特征X线的解释,错误的是()A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质取决于高速电子的能量C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特性X线的能量大E、70kVp以下钨不产生K系特征X线

考题 关于特征X线的叙述,正确的是()A、X线波长仅与管电压有关B、外层轨道电子跃迁产生X线为特征X线C、X射线谱是连续能量谱D、电压升高特征放射能量增加E、管电压升高特征射线的百分比减少

考题 有关X线发生效率的解释,错误的是()。A、与管电压有关B、与管电流有关C、与靶物质的原子序数成正比D、诊断用X线的发生效率为30%E、与特征X线的波长无关

考题 单选题关于X线发生效率的叙述,错误的是()A 与管电压有关B 与管电流有关C 与靶物质的原子序数成正比D 与特征X线的波长无关E 诊断用X线的发生效率为30%

考题 单选题有关特征X线的解释,错误的是()A 高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B 特征X线的质与高速电子的能量有关C 特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D 靶物质原子序数较高特征X线的能量大E 70kVp以下不产生K系特征X线

考题 单选题有关特征X线的解释,错误的是(  )。A 靶物质原子序数较高特性X线的能量大B 高速电子与靶物质轨道电子作用的结果C 特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D 特征X线的质与高速电子的能量有关E 70kVp以下不产生K系特征X线

考题 单选题有关特征X线的解释,错误的是(  )。A 是高速电子与靶物质原子的内层轨道电子相互作用的结果B 特征放射产生的X线的质与高速电子的能量有关C 其波长,由跃迁的电子能量差所决定D 靶物质原子序数较高时,特征X线的能量就大E 钨靶在70kVp以下不产生K系特征X线

考题 单选题有关X线发生效率的解释,错误的是()。A 与管电压有关B 与管电流有关C 与靶物质的原子序数成正比D 诊断用X线的发生效率为30%E 与特征X线的波长无关