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激光雷达扫描飞行数据采集完成后,所获得的四类数据主要是:定位定向数据(POS数据)、激光扫描测距数据、同步获得的影像数据和飞行前检校获得的设备安装参数。


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考题 目前系统已实现的干扰数据采集手段包括:A、通过OMC网管上的性能统计工具采集一段时间内的小区平均RSSI数据B、通过OMC网管上的频谱扫描工具,针对待定位小区开启频谱扫描功能C、在诊断测试模块中实时查看RSSI数据D、在MTS工具实时查看每个RB上的上行干扰情况

考题 三维激光扫描测量获得的原始数据主要是( )。A.点云数据 B.格网数据 C.纹理数据 D.影像数据

考题 (2015 年) 三维激光扫描测量获得的原始数据主要是() 。A. 点云数据 B. 格网数据 C. 纹理数据 D. 影像数据

考题 机载激光雷达测量系统在检校的目的主要是消除激光扫描仪坐标系与IMU坐标系坐标轴不平行(安置角误差)引起点云数据的坐标偏移误差。

考题 司磅员打开磅秤数据采集仪后,数据采集仪自检完成后,须检查数据显示是否()。

考题 全站仪数据采集过程中,定向的方式有()。A、坐标定向B、角度定向C、距离定向D、坐标定向、角度定向

考题 图形扫描仪采集地形数据是()A、扫描地图B、扫描数据C、对扫描图形数字化D、图形扫描

考题 梯度磁场作用()。A、对扫描数据进行空间定位B、使主磁场均匀C、协助主磁场产生更强大的磁场D、发射射频E、产生主磁场

考题 目前系统已实现的干扰数据采集手段包括()。A、通过OMC网管上的性能统计工具采集一段时间内的小区平均RSSI数据B、频谱扫描工具,针对待定位小区开启频谱扫描功能C、在诊断测试模块中实时查看RSSI数据D、在MTS工具实时查看每个RB上的上行干扰情况

考题 我们通常把机载激光雷达测量的工序分为如下关键步骤:()A、航飞准备B、数据采集C、数据预处理D、数据处理

考题 为避免数据丢失,主站应提供()召唤功能,定时对所有站端采集装置进行全数据采集,召唤时间间隔可设定。A、厂站B、数据C、部分扫描D、全扫描

考题 数据采集器操作必须在无车时进行,且操作完成后及时按“取消”键恢复主界面,再依次按“置零”和“确认”键。

考题 数据量采集的主法有()。A、用蕊片采集并行数据B、用端口采集串行数据C、数字采集数据D、模拟采集数据

考题 目前接触网动态检测系统定位系统采用的方式不包括以下方式()。A、定位标签B、速度传感器结合定位点数据库C、定位点图像识别D、激光雷达方式

考题 目前我国主要采用()、()和()采集数据。前两者主要是室内作业采集数据,后者是野外采集数据。

考题 SCADA(Supervisory Controland Data Acquisition)系统,即()与监视控制系统A、数据采集B、数据分析C、定位采集D、吊线采集

考题 如果飞行数据获得组件(FDAU)故障,则()。A、飞行数据获得组件(FDAU)前面板上的“DFDAUFALL”灯亮B、飞行记录器马赫空速警告测试组件上的飞行记录器“OFF”灯亮C、两个主警告灯亮,“OVERHEAD”警告灯亮D、以上三个情况同时出现

考题 机长时钟将时间和日期数据提供给()。A、飞行管理计算机、话音记录器,多方式接收机B、飞行数据获得组件、话音记录器,多方式接收机C、话音记录器、飞行管理计算机、飞行数据获得组件D、多方式接收机,飞行管理计算机,飞行数据获得组件

考题 SCADA系统中数据采集的标准扫描方式为()。A、数据量变化传送B、数据传送

考题 从特定数据生产环境获得原始数据的专用数据采集技术。指的是()。A、数据生成B、数据采集C、数据存储D、数据分析

考题 单选题扫描时采用容积数据采集法的是(  )。A 螺旋扫描B 间隔扫描C 序列扫描D 持续扫描E 定位扫描

考题 判断题激光雷达扫描飞行数据采集完成后,所获得的四类数据主要是:定位定向数据(POS数据)、激光扫描测距数据、同步获得的影像数据和飞行前检校获得的设备安装参数。A 对B 错

考题 多选题目前系统已实现的干扰数据采集手段包括()。A通过OMC网管上的性能统计工具采集一段时间内的小区平均RSSI数据B频谱扫描工具,针对待定位小区开启频谱扫描功能C在诊断测试模块中实时查看RSSI数据D在MTS工具实时查看每个RB上的上行干扰情况

考题 单选题从特定数据生产环境获得原始数据的专用数据采集技术。指的是()。A 数据生成B 数据采集C 数据存储D 数据分析

考题 多选题我们通常将机载激光雷达测量的工序分为如下关键步骤()A航飞准备B数据采集C数据预处理D数据处理

考题 判断题机载激光雷达测量系统在检校的目的主要是消除激光扫描仪坐标系与IMU坐标系坐标轴不平行(安置角误差)引起点云数据的坐标偏移误差。A 对B 错

考题 多选题野外数据采集的主要手段有()A扫描B矢量化C平板测量D空间定位测量E二值化