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由于射线照相存在影象放大现象,所以底片评定时,缺陷定量应考虑放大的影响。


参考答案

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考题 什么是影响射线照相影象质量的三要素?

考题 射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的()和()。

考题 工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能

考题 由于阻容耦合多级放大电路有耦合电容存在,所以不适合放大频率低的信号。

考题 从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是

考题 关于大版照相的照片总放大倍率描述,哪项正确?()A、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×3B、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×1.5C、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×2.5D、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×2E、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×5

考题 以下关于信息理论在射线照相方面的论述,哪一条是错误的()A、所谓“噪声“即是底片的颗粒度B、信噪比是指缺陷影象对比度ΔD与噪声σD之比C、只要信噪比大于1,缺陷就能够识别D、信噪比越大,缺陷识别就越容易

考题 射线照像影像会放大,下面叙述中正确的是()A、射源至试件距离越远,影像放大得越大B、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大,影像放大得越大C、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小,影像放大得越大D、射源至试件的距离与影像放大无关

考题 关于放大射线照相技术,下列叙述正确的是()A、放大倍数存在最佳值B、工件与胶片的距离越小越好C、射线源与工件的距离越小越好D、以上都正确

考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状

考题 曝光过程中,试样或胶片偶然移动或使用焦距变小()。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片

考题 X射线照相灵敏度取决于()。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的()、()。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。

考题 从可检测的最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于底片上缺陷影响的对比度。

考题 关于大版照相的照片总放大倍率描述,正确的是()A、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×1.5B、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×2C、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×2.5D、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×3E、照片总放大倍率=物镜放大倍率×照相目镜放大倍率×5

考题 焊缝射线照相底片上常见缺陷()、()、()和()。

考题 由于底片上影象信噪比随曝光量的增加而增大,所以增加曝光量有利于缺陷影象识别。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低()、()。

考题 单选题工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能

考题 判断题由于射线照相存在影象放大现象,所以底片评定时,缺陷定量应考虑放大的影响。A 对B 错

考题 问答题什么是影响射线照相影象质量的三要素?

考题 填空题射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

考题 判断题由于底片上影象信噪比随曝光量的增加而增大,所以增加曝光量有利于缺陷影象识别。A 对B 错

考题 单选题关于放大射线照相技术,下列叙述正确的是()A 放大倍数存在最佳值B 工件与胶片的距离越小越好C 射线源与工件的距离越小越好D 以上都正确

考题 填空题焊缝射线照相底片上常见缺陷()、()、()和()。