考题
使用直方图时，参数的CPK连续（）周大于或等于1.33，可以考虑转用X-R Chart控制。A、四周B、六周C、两周
考题
采用Histogram进行监控的参数在什么条件下可转为使用X-R Chart进行监控？
考题
一般情况下，当一个工序所反映的能力指标参数CPK达到多少时，此工序的制程能力才算足够（）A、2.0B、1.67C、1.33D、1.0
考题
Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数，一般要求CPK=1.33，请问这有什么好处？
考题
做产品参数X-R Chart，组内样本数n=3时，则要求至少收集多少个数据？（）A、60个B、70个C、80个
考题
在lafe采用X-R Chart的参数有哪两大益处？
考题
Lafe现采用的X-R Chart可分为Product X-R Chart和Tester X-R Chart，请问它们在生产线上的作用分别是什么？
考题
下列为Product X-R Chart的设置点的是：（）。A、具有可靠性要求的参数B、易于变动的测量仪器C、取Data较难但又影响产品质量的参数
考题
Cpk=1.09的参数，在什么条件下可使用X-R Chart？
考题
因工序变化而影响产品质量的监控点可设置以下哪些控制图？（）A、X-R ChartB、X-S ChartC、P-ChartD、C-Chart
考题
用于控制产品本身的参数特征应该用哪种类型的SPC Chart？
考题
（）是指过程处于受控或稳定状态下的实际加工能力。A、工序能力指数B、工序能力C、产品工序指数D、工序参数
考题
问答题OP#50工序某参数X-R Chart失控后，生产主任在OP#10工序发现许多该参数Outof spec.的料，请问这种X-R Chart监控存在什么问题？
考题
问答题Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数，一般要求CPK=1.33，请问这有什么好处？
考题
单选题使用直方图时，参数的CPK连续（）周大于或等于1.33，可以考虑转用X-R Chart控制。A
四周B
六周C
两周
考题
单选题双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限，则该工序参数的工序能力：（）。A
CPK逐步变大B
CP逐步变大C
CPK逐步变小D
CP逐步变小
考题
问答题产品参数使用X-R Chart控制，要求参数的工序能力一般为多少？
考题
问答题Lafe现采用的X-R Chart可分为Product X-R Chart和Tester X-R Chart，请问它们在生产线上的作用分别是什么？
考题
单选题做产品参数X-R Chart，组内样本数n=3时，则要求至少收集多少个数据？（）A
60个B
70个C
80个
考题
问答题采用Histogram进行监控的参数在什么条件下可转为使用X-R Chart进行监控？
考题
多选题某工序参数使用的X-R Chart长期不会出现失控现象，我们的做法是：（）。A继续保持该工序控制B重新修正该工序控制C考虑取消该工序控制
考题
问答题Cpk=1.09的参数，在什么条件下可使用X-R Chart？
考题
问答题用于控制产品本身的参数特征应该用哪种类型的SPC Chart？
考题
单选题（）是指过程处于受控或稳定状态下的实际加工能力。A
工序能力指数B
工序能力C
产品工序指数D
工序参数
考题
问答题当产品参数的工序能力1£CPK1.33而使用X-RChart控制时需要什么条件？
考题
多选题下列为Product X-R Chart的设置点的是：（）。A具有可靠性要求的参数B易于变动的测量仪器C取Data较难但又影响产品质量的参数
考题
问答题在lafe采用X-R Chart的参数有哪两大益处？
