考题
应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是A.硒鼓检测器B.CR成像板(IP)C.直接转换平板探测器D.间接转换平板探测器E.多丝正比室检测器
考题
从X线到影像按“潜影—可见光—数字影像”这一程序转换的是A.影像增强器+摄像机B.成像板C.闪烁体+CCD摄像机阵列D.直接转换平板探测器E.间接转换平板探测器
考题
应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是A、硒鼓检测器B、IP成像转换器C、直接转换平板探测器D、间接转换平板探测器E、多丝正比室检测器
考题
从X线到影像按"潜影→可见光→数字影像"这一程序转换的是A、Ⅱ+TV摄像机B、成像板C、闪烁体+CCD摄像机阵列D、直接转换平板探测器E、间接转换平板探测器
考题
应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是()。A.CCD检测器B.IP成像转换器C.直接转换平板探测器D.间接转换平板探测器E.多丝正比室检测器
考题
关于DR探测器的类型，错误的是A．非晶硒平板型探测器B．非晶硅平板型探测器C．碘化铯平板型探测器D．多丝正比室扫描DRE．CCD摄像机型DR
考题
目前最常用的DR系统为A.CsI+CCD阵列B.非晶硅平板探测器C.非晶硒平板探测器D.多丝正比电离室E.计算机X线摄影
考题
应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是A.砸鼓检测器B.IP成像转换器C.直接转换平板探测器D.间接转换平板探测器E.多丝正比室检测器
考题
从X线到影像按潜影→可见光→数字影像这一程序转换的是A．I.I+TV摄像机B．成像板C．闪烁体+CCD摄像机阵列D．直接转换平板探测器E．间接转换平板探测器
考题
属于DR成像直接转换方式的是A．非晶硒平板探测器B．碘化铯+非晶硅平板探测器C．利用影像板进行X线摄影D．固定IP+CCD摄像机阵列E．硫氧化钆：铽+非晶硅平板探测器
考题
属于DR成像间接转换方式的部件是A．增感屏B．非晶硒平板探测器C．碘化铯+非晶硅探测器D．半导体狭缝线阵探测器E．多丝正比电离室
考题
属于DR成像直接转换方式的部件是A．闪烁体+CCD摄像机阵列B．非晶硒平板探测器C．碘化铯+非晶硅探测器D．半导体狭缝线阵探测器E．多丝正比电离室
考题
多丝正比电离室探测器是A.间接探测器
B.直接探测器
C.动态探测器
D.平板探测器
E.模拟探测器
考题
应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是A.IP成像转换器
B.直接转换平板探测器
C.间接转换平板探测器
D.硒鼓检测器
E.多丝正比室检测器
考题
属于DR成像间接转换方式的部件是（）A、增感屏B、非晶硒平板探测器C、碘化铯+非晶硅探测器D、半导体狭缝线阵探测器E、多丝正比电离室
考题
应用碘化铯闪烁体和非晶硅管阵列技术制成的探测器是（）A、硒鼓探测器，B、IP成像转换器，C、直接转换平板探测器，D、间接转换平板探测器，E、多丝正比室检测器
考题
从X线到影像按"潜影→可见光→数字影像"这一程序转换的是（）A、I.I+TV摄像机B、成像板C、闪烁体+CCD摄像机阵列D、直接转换平板探测器E、间接转换平板探测器
考题
从X线被照体→潜影→可见光→数字影像，这一程序转换的是（ ）A、I.I．TVB、成像板C、闪烁体+CCD摄像机阵列D、直接转换平板探测器E、间接转换平板探测器
考题
单选题应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是（ ）。A
硒鼓检测器B
CR成像板（IP）C
直接转换平板探测器D
间接转换平板探测器E
多丝正比室检测器
考题
单选题数字X线摄影（DR）不包括（ ）。A
直接转换平板探测器B
间接转换平板探测器C
多丝正比室探测器D
闪烁体＋CCD摄像机阵列E
线扫描计算机X线摄影
考题
单选题关于平板探测器的描述，错误的是（ ）。A
接收X线照射而直接输出数字影像信息B
也称作直接X线摄影C
乳腺摄影用平板探测器效率更高D
有直接转换和间接转换两种E
乳腺摄影用平板探测器像素更小
考题
单选题应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是（）。A
硒鼓检测器B
IP成像转换器C
直接转换平板探测器D
间接转换平板探测器E
多丝正比室检测器
考题
单选题目前最常用的DR系统为（ ）。A
CsI＋CCD阵列B
非晶硅平板探测器C
非晶硒平板探测器D
多丝正比电离室E
计算机X线摄影
考题
单选题属于DR成像间接转换方式的部件是（）A
增感屏B
非晶硒平板探测器C
多丝正比电离室D
碘化色+非晶硅探测器E
半导体狭缝线阵探测器
