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与X线质无关的是A.管电压B.X线量C.X线光子能量D.对物质的穿透力S

与X线质无关的是

A.管电压

B.X线量

C.X线光子能量

D.对物质的穿透力

E.半价层厚度


参考答案

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考题 关于X线质的叙述,正确的是A.X线的硬度B.X线的强度C.X线的波长越短,X线质越硬D.常以管电压(kV)值间接表示X线质E.常以管电流(mA)值间接表示X线质

考题 关于X线质的叙述,错误的是A.管电压越高,X线质越硬B.X线强度越大,X线质越硬C.X线光子能量越大,X线质越硬D.对物质的穿透力越强,X线质越硬E.对同种物质半价层越厚,X线质越硬

考题 关于X线的穿透作用,下述说法错误的是( )。A.X线具有一定的穿透能力B.X线的穿透力与X线的频率成反比C.X线的穿透力与被穿透物质的原子序数成反比D.X线的穿透力与被穿透物质的密度成反比E.X线的穿透力与被穿透物质的厚度成反比

考题 下列与X线的质和量有关的叙述中,错误的是( )。A.X线强度受管电压、管电流、靶物质及高压波形的影响B.X线强度与管电压的平方成正比C.管电流越大,产生的X线光子数就越多D.对特征X线来说,靶物质的原子序数决定产生特征X线的量E.整流后的脉动电压越接近峰值,其X线强度越大

考题 临床上常用的“X线硬度”表示A.X线量B.X线质C.曝光量D.管电压E.管电流

考题 下列叙述错误的是A.高速电子与靶物质机道电子作用的结果B.X线的质与高速电子的能量有关C.X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数高则特征X线的能量大E.70kVp以下时,鸨靶不产生X线

考题 与X线质无关的是A.管电压B.X线量C.X线光子能量D.对物质的穿透力E.半价层厚度

考题 对X线吸收与衰减的叙述,错误的是A.X线强度与距离平方成反比B.X线与物质相互作用被吸收而衰减C.X线透过物质后,质和量都有改变D.透过物质后的射线平均能量降低E.透过物质后的平均能量接近它的最高能量

考题 不同靶物质的X线谱高能端重合,是因为A.X线管固有滤过的缘故B.X线低能成分被管壁吸收的缘故C.X线谱中最大光子能量只与管电压有关D.X线谱中最大光子能量只与管电流有关E.X线谱中最大光子能量只与阴极、阳极间的距离有关

考题 导致X线衰减的原因是A.与物质作用B.X线波长短C.X线能量大D.X线不可见E.X线是电磁波

考题 下列关于X线照片对比度的影响因素,错误的是A.胶片的反差系数B.X线质C.X线量D.被照体本身因素E.被照体与球管距离

考题 X线衰减特点的叙述,错误的是A.X线强度与距离平方成反比B.X线通过物质后质和量都发生改变C.X线通过物质时低能光子被吸收的少D.X线通过物质后射线平均能量提高E.X线的能量影响衰减

考题 x线的质与下列因素无关的是A.管电压B.高压波形C.X线管玻璃及绝缘油的滤过S x线的质与下列因素无关的是A.管电压B.高压波形C.X线管玻璃及绝缘油的滤过D.附加滤过板E.X线胶片

考题 影响DSAX线能量选择的因素是A.摄影部位 B.X线量 C.X线强度 D.X线检测器与被照体的吸收特性 E.曝光时间

考题 临床上常用"X线硬度"表示A.管电压 B.X线质 C.管电流 D.曝光量 E.X线量

考题 下列叙述错误的是A.管电压越高,产生的X线最短波长越短 B.X线的最短波长对应于最大光子能量 C.管电压越高,X线的产生效率越大 D.阳极靶物质的原子序数越大,X线的产生效率越大 E.管电流越高,X线的产生效率越大

考题 以下说法错误的是A.直接影响X线产生的因素有靶物质、管电压、管电流、高压波形 B.X线的微粒性和波动性并存 C.X线的质,又称为X线的硬度,是由X线的量决定的 D.在真空中,X线量的衰减与距离的平方成反比 E.X线的波长越短,X线的光子所具有的能量就越大

考题 X线穿过均匀物质时,与其衰减无关的因素是A.物质的衰减系数 B.X线经过的距离 C.X线发出的强度 D.物质的厚度 E.物质的面积

考题 对于X线强度的理解,正确的是A.X线强度指管电压的高低 B.X线强度指X线的穿透力 C.管电压、管电流、靶物质决定X线强度 D.在管电压、管电流一定的情况下,X线强度因靶物质原子序数的提高而降低 E.以上都是错误的

考题 关于X线质和量的描述,错误的是A.在X线诊断中,常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量 B.实际上,X线量是X线束中的光子数 C.X线的质也称X线的硬度,即穿透力的大小 D.X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关 E.X线量的另一种表示方法是用半价层

考题 关于X线减弱特点的叙述,错误的是A.强度与距离平方成反比 B.X线通过物质后,质和量都发生改变 C.X线通过物质,低能光子被吸收少 D.X线通过物质后射线平均能量提高 E.X线的能量影响衰减

考题 关于X线质和量的描述,错误的是()A、在X线诊断中,常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量B、实际上,X线量是X线束中的光子数C、X线的质也称X线的硬度,即穿透力的大小D、X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E、X线量的另一种表示方法是用半价层

考题 与X线质无关的是()A、管电压B、X线量C、X线光子能量D、对物质的穿透力E、半价层厚度

考题 对X线质的正确叙述是()。A、与X线质与光子能量和光子数目有关B、X线质反映了X线穿透物质本领的大小C、X线波长越短,线质越硬D、X线频率越高,穿透力越强E、用管电压数值可以表示X线的质

考题 多选题对X线质的正确叙述是()。A与X线质与光子能量和光子数目有关BX线质反映了X线穿透物质本领的大小CX线波长越短,线质越硬DX线频率越高,穿透力越强E用管电压数值可以表示X线的质

考题 单选题关于X线质和量的描述,错误的是()A 在X线诊断中,常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量B 实际上,X线量是X线束中的光子数C X线的质也称X线的硬度,即穿透力的大小D X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E X线量的另一种表示方法是用半价层

考题 单选题与X线质无关的是(  )。A 管电压B X线量C X线光子能量D 对物质的穿透力E 半价层厚度