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利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时,到达作业现场后,应检查被检材料和环境是否存在影响分析结果的因素,如果有,必须清理干净。以下属于这些因素的有()

  • A、镀层
  • B、油漆
  • C、油污
  • D、氧化层

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考题 电网设备的光谱分析检验常用哪种设备()A、看谱镜B、光电光谱分析仪C、手持式X射线光谱仪D、荧光光谱仪

考题 影响周边视野测量值的环境条件因素主要有视标的大小、视标的亮度、被检眼屈光不正的影响和被检眼的检查距离。

考题 影响周边视野测量值的环境条件因素主要有被检者面形的影响、视标的亮度、背景光的亮度和被检眼的检查距离。

考题 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。

考题 手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能,能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。

考题 以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

考题 手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。

考题 开关柜触头镀银层厚度在出厂验收阶段或安装调试阶段现场检测或取样送检。建议采用()等能保证精度的设备进行开关柜触头镀银层厚度测量。A、X射线荧光镀层检测仪B、回路电阻测试仪C、手持式X射线荧光光谱仪D、机械特性测试仪

考题 利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时,分析铁基材料中Al时,不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。

考题 被检工件表面的油污对便携式X射线合金分析仪(光谱议)影响不大,实际检测时可不去除油污。

考题 手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度,不受基体金属的种类影响。

考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

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考题 列检复示站THDS动态检车员对站探测的到达作业和停车中转作业的货物列车遇到()情况无法预报时,须立即通知列检人员进行人工轴温检查。A、THDS发生临时故障时B、THDS受到干扰出现异常时C、列车在THDS探测站调速或停车影响探测时D、因停电、维修、线路施工及其他因素等造成THDS无法探测时

考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度,不受基体金属的种类影响。A 对B 错

考题 判断题被检工件表面的油污对便携式X射线合金分析仪(光谱议)影响不大,实际检测时可不去除油污。A 对B 错

考题 单选题影响周边视野测量值的环境条件因素主要有视标的大小、视标的亮度、背景光的亮度和()。A 被检眼的检查距离B 被检者面形的影响C 被检者瞳孔大小的影响D 被检眼屈光不正的影响E 被检眼屈光介质的影响

考题 多选题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时,到达作业现场后,应检查被检材料和环境是否存在影响分析结果的因素,如果有,必须清理干净。以下属于这些因素的有()A镀层B油漆C油污D氧化层

考题 多选题手持式X射线荧光光谱分析仪,以下不可检测的元素成分是()AMoBBCSnDN

考题 判断题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时,分析铁基材料中Al时,不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。A 对B 错

考题 判断题台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。A 对B 错

考题 多选题开关柜触头镀银层厚度在出厂验收阶段或安装调试阶段现场检测或取样送检。建议采用()等能保证精度的设备进行开关柜触头镀银层厚度测量。AX射线荧光镀层检测仪B回路电阻测试仪C手持式X射线荧光光谱仪D机械特性测试仪

考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。A 对B 错

考题 单选题电网设备的光谱分析检验常用哪种设备()A 看谱镜B 光电光谱分析仪C 手持式X射线光谱仪D 荧光光谱仪

考题 单选题隔离开关镀银层厚度检测使用X射线荧光镀层测厚仪,通过从被检件上反射的二次X射线强度测量镀银层厚度,检测范围可达()μm。A 0.1-5B 0.01-5C 0.1-50D 0.01-50