考题
()应用延伸度法对缺陷进行定量。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.点状缺陷D.平面型缺陷
考题
当量法适用于()。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.水平裂纹和斜裂纹D.纵向裂纹
考题
当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷()
此题为判断题(对，错)。
考题
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
考题
在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
考题
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
考题
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
考题
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。A、面积大于声束截面的当量一定大B、面积小于声束截面的当量反而大C、当量忽大忽小D、以上都可能
考题
半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
考题
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
考题
接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
考题
接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。
考题
（）应用延伸度法对缺陷进行定量.A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、点状缺陷D、平面型缺陷
考题
当量法适用于（）A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、水平裂纹和斜裂纹D、纵向裂纹
考题
当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。
考题
用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
考题
单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A
小于实际尺寸B
接近声束宽度C
稍大于实际尺寸D
等于晶片尺寸
考题
填空题用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
考题
判断题当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。A
对B
错
考题
判断题在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。A
对B
错
考题
单选题（）应用延伸度法对缺陷进行定量.A
大于声束截面的缺陷B
小于声束截面的缺陷C
点状缺陷D
平面型缺陷
考题
填空题接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。
考题
单选题当量法适用于（）A
大于声束截面的缺陷B
小于声束截面的缺陷C
水平裂纹和斜裂纹D
纵向裂纹
考题
判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A
对B
错
考题
判断题在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。A
对B
错
考题
判断题在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。A
对B
错