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EDI组件实际运行（）规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

  • A、电流低于
  • B、电流高于
  • C、压力低于
  • D、压力高于

参考答案

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考题 EDI组件实际运行电流低于规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A对B错
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考题 EDI组件在给电不足的情况下运行，树脂内离子处于离子饱和状态时，应对EDI组件进行杀菌剂清洗。A对B错
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考题 EDI运行有一个最佳温度范围，温度高于规定值，离子泄漏量增加，产品水水质将降低。A对B错
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考题 EDI组件实际运行电流高于规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。A对B错
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考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低。A对B错
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考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累，需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10～20％，排放掉的浓水由EDI产品水补充。A对B错
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考题 EDI组件实际运行电流低于规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。
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考题 EDI运行条件改变后，组件将需要运行8～24个小时才能达到稳定。稳定状态是指进出组件的离子达到到物料平衡。
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考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累，需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10～20％，排放掉的浓水由EDI产品水补充。
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考题 EDI运行有一个最佳温度范围，温度高于规定值，离子泄漏量增加，产品水水质将降低。
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考题 EDI组件实际运行（）规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于
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考题 EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是（）。A、产品水出口有异物堵塞B、运行流量增加C、离子交换膜结垢D、运行温度升高
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考题 余氯和臭氧会氧化离子交换树脂和离子交换膜，引起EDI组件功能减低。
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考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低。
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考题 EDI组件在给电不足的情况下运行，树脂内离子处于离子饱和状态时，应对EDI组件进行杀菌剂清洗。
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考题 铁锰离子对EDI组件中的树脂严重污染的原因（）。A、EDI阴膜附近pH值很高B、EDI组件在运行时，无法电解H+C、EDI阳膜附近pH值很高D、EDI阴膜附近pH值很低
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考题 变价金属离子对EDI组件的影响是（）。A、引起离子交换树脂中毒B、对离子交换树脂氧化催化作用，会造成树脂的永久损伤C、引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D、离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低
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考题 EDI组件实际运行电流高于规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。
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考题 多选题变价金属离子对EDI组件的影响是（）。A引起离子交换树脂中毒B对离子交换树脂氧化催化作用，会造成树脂的永久损伤C引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低
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考题 判断题EDI组件实际运行电流高于规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。A 对B 错
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考题 单选题EDI组件实际运行（）规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于
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考题 判断题EDI组件在给电不足的情况下运行，树脂内离子处于离子饱和状态时，应对EDI组件进行杀菌剂清洗。A 对B 错
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考题 单选题EDI组件实际运行（）规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于
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考题 判断题为避免EDI组件浓水中离子过度积累，需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10～20％，排放掉的浓水由EDI产品水补充。A 对B 错
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考题 判断题EDI组件实际运行电流低于规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 对B 错
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考题 判断题变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低。A 对B 错
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考题 判断题EDI运行有一个最佳温度范围，温度高于规定值，离子泄漏量增加，产品水水质将降低。A 对B 错
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