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题目内容 (请给出正确答案)
多选题
X线的特性中与X线诊断有关的是()。
A

穿透性

B

荧光作用

C

感光作用

D

电离作用

E

着色作用


参考答案

参考解析
解析: 穿透性是X线成像的物理基础;电离作用是X线损伤和治疗的基础;透视用的荧光屏和影像增强器的输入屏、X线摄影用的增感屏以及CR系统的IP都是利用了荧光作用;感光作用与X线摄影有关。
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考题 有关特征X线的解释,错误的是A.是高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B.特征X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数较高特性X线的能量大E.70kVp以下不产生钨的K系特征X线

考题 关于X线质和量的描述,错误的是A.在X线诊断中,常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量B.实际上,X线量是X线束中的光子数C.X线的质也称X线的硬度,即穿透力的大小D.X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E.X线量的另一种表示方法是用半价层

考题 关于X线量的叙述,正确的是A.X线量是指X线光子的穿透能力B.X线量是根据X线特性直接测量C.与靶面物质的原子序数Z成反比D.与给予X线管的电能成反比E.X线诊断范围内常用mAs表示

考题 关于X线量的叙述,正确的是A.X线量是指X线光子的穿透能力B.X线量是根据X线特性直接测量C.与靶面物质的原子序数Z成反比D.与给予X线管的电能成反比E.诊断X线范围常用mAs表示

考题 关于X线量的叙述,正确的是A.是指X线光子的穿透能力B.是根据X线特性直接测量C.与给予X线管的电能成反比D.与靶物质的原子序数成反比E.X线诊断范围内常用mAs表示

考题 关于X线质和量的描述,错误的是()A、在X线诊断中,常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量B、实际上,X线量是X线束中的光子数C、X线的质也称X线的硬度,即穿透力的大小D、X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E、X线量的另一种表示方法是用半价层

考题 X线与医学成像有关的基本特性有()、()、()、()。

考题 与临床应用有关的X线特性是()、()、()和电离作用。

考题 简述X线与医学有关的特性

考题 高速电子与阳极靶物质发生相互作用时()。A、产生连续X线B、只产生特性X线C、产生连续X线和特性X线D、不产生X线E、产生电子线

考题 有关特征X线的解释,错误的是()A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质与高速电子的能量有关C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特性X线的能量大E、70kVp以下不产生K系特征X线

考题 有关X线发生效率的解释,错误的是()。A、与管电压有关B、与管电流有关C、与靶物质的原子序数成正比D、诊断用X线的发生效率为30%E、与特征X线的波长无关

考题 单选题在X线的特性中,X线成像的基础是(  )。A B C D E

考题 单选题关于X线量的叙述,正确的是(  )。A X线量是指X线光子的穿透能力B X线量是根据X线特性直接测量C 与靶面物质的原子序数z成反比D 与给予X线管的电能成反比E 诊断X线范围常用mAs表示

考题 单选题关于特性X线的解释,错误的是(  )。A 是高速电子冲击靶物质内层轨道电子而产生的B L层电子比K层电子的能量少C 70keV以下不产生钨的特性X线D 150kVp以上,特性X线减少E 特性X线能量与靶物质的原子序数有关

考题 单选题关于X线质和量的描述,错误的是()A 在X线诊断中,常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量B 实际上,X线量是X线束中的光子数C X线的质也称X线的硬度,即穿透力的大小D X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E X线量的另一种表示方法是用半价层

考题 单选题有关特征X线的解释,错误的是(  )。A 靶物质原子序数较高特性X线的能量大B 高速电子与靶物质轨道电子作用的结果C 特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D 特征X线的质与高速电子的能量有关E 70kVp以下不产生K系特征X线

考题 填空题X线具有与X线成像和X线检查相关的特性为:()。

考题 填空题与临床应用有关的X线特性是()、()、()和电离作用。