网友您好， 请在下方输入框内输入要搜索的题目：
题目内容
（请给出正确答案）
部分机型开机自检报SMART……需要按F1继续，按F1后部分机器可以正常进入系统，部分机型直接死机如何解决（）
- A、硬盘故障
- B、主板故障
- C、键盘故障
- D、USB接口板故障
参考答案
更多 “部分机型开机自检报SMART……需要按F1继续，按F1后部分机器可以正常进入系统，部分机型直接死机如何解决（）A、硬盘故障B、主板故障C、键盘故障D、USB接口板故障” 相关考题
考题
设有以下说明:type t1=file of integer; var f1:t1;n:integer; 且abc.dat是t1型文件,下面正确的程序段是
Aassign(f1,‘abc.dat‘); write(f1,n); rewrite(f1); close(f1);Bassign(f1,‘abc.dat‘); reset(f1); readln(f1,n); close(f1);Cassign(f1,‘abc.dat‘); rewrite(f1); writeln(f1,n); close(f1);Dassign(f1,‘abc,dat‘); rewrite(f1); read(f1,n); close(f1);
考题
若程序中定义了三个函数f1，f2，f3，并且函数f1执行时会调用f2、函数f2执行时会调用f3，那么正常情况下，（）。A.f3执行结束后返回f2继续执行，f2执行结束后返回f1继续执行B.f3执行结束后返回f1继续执行，f1执行结束后返回f2继续执行C.f2执行结束后返回f3继续执行，f3执行结束后返回f1继续执行D.f2执行结束后返回f1继续执行，f1执行结束后返回f3继续执行
考题
下面子过程语句说明合法的是( )。A．Function f1(By Valn%)B．Sub f1(n%)As IntegerC．Function f1%(f1%)D．Sub f1(ByValn%())
考题
下面子过程说明合法的是( )。
A、Sub f1(ByVal n%())B、 Sub f1(%)As integerC、 Function f1%(f1%)D、 Function f1(ByVal n%)
考题
利用TCM软件清理Axios光谱仪Plunger的密封圈灰尘的操作步骤是（）A、关闭高压、放真空、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F3使Plunger向下，再按F1打开cap。B、放真空、关闭高压、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F3使Plunger向下，再按F1打开cap。C、放真空、关闭高压、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F2使Plunger向下，再按F1打开cap。D、关闭高压、放真空、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F3使Plunger向下，再按F1打开cap。
考题
有关ATP合成机制的叙述正确的是（）A、除α、β亚基外，其他亚基有ATP结合部位B、在ATP合酶F1部分进行C、F0部分仅起固定F1部分作用D、F1α、β亚基构成质子通道E、H自由透过线粒体内膜
考题
开机自检时如果总出现“CMOS checksum error-Defaults loaded”或是“CMOS Battery State Low”提示，而且必须按F1，Load BIOS default才能正常开机。解决此问题建议首先（）A、更换键盘B、更换钮扣式电池C、更换CPUD、更换内存条
考题
计算机开机时总是自检到光驱后就停止，大约1分钟后出现“Primary master hard disk fail Press F1 to continue”的提示，按下F1键后出现“verfying dmi pool data……disk boot failure, inter system disk and press enter”提示，再次重新启动后即可正常使用，这是什么原因？
考题
有关ATP合成机制的叙述正确的是（）。A、除d、B亚基外，其他亚基有ATP结合部位B、在ATP合酶F1部分进行C、F0部分仅起固定F1部分作用D、F1α、β亚基构成质子通道E、H+自由透过线粒体内膜
考题
Iff1（t）←→F1（jω），f2（t）←→F2（jω），Then（）A、f1（t）*f2（t）←→F1（jω）F2（jω）B、f1（t）+f2（t）←→F1（jω）F2（jω）C、f1（t）f2（t）←→F1（jω）F2（jω）D、f1（t）/f2（t）←→F1（jω）/F2（jω）
考题
判断题开机找不到键盘鼠标或开机时提示按“F1”继续，或者是在桌面上鼠标乱跑，解决的办法是更换键盘或鼠标。A
对B
错
热门标签
最新试卷
