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使用QS1型交流电桥测量tanØ时,当试验现场有运行的高压电气设备,尤其有漏磁通较大的电搞器、阻波器,测试将受到它们形成的磁场干扰,造成tanØ值增大或减小。


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考题 电容型设备在线检测tanδ时,消除现场电场及磁场对电桥平衡影响的方法有哪些?

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A对B错

考题 采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。A对B错

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。A对B错

考题 采用QS1电桥进行反接线测试tanδ,其工作电压不可超过10kV。

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。

考题 西林电桥测试tanδ时,升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,温度对tanØ测量结果影响很大。绝大多数情况下,对同一被试设备,其tanØ随温度的升高而减少。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,现场采用排除磁场干扰的方法有以下几种()A、把电桥移到磁场以外去测量B、使检流计极性转换开关处于两种不同位置时,调节电桥平衡,求得每次平衡时的tanØ值和电容值,取两次的平均值为tanØ值C、提高试验电压D、在被试设备上加装屏蔽罩

考题 QS1型交流电桥是测量介质损耗正切值的专用仪器,适用于变压器、电机、电缆等高压设备介质损耗正切值的测量。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,现场采用排除电场干扰的方法有以下几种()A、提高试验电压B、采用正接线方法C、用电桥内部“选相”、“倒相”法接线,排除干扰源对电源相位的干扰D、在被试设备上加装屏蔽罩

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,造成-tanØ值出现的原因有()A、温度影响B、强电场干扰C、测量中接线错误D、测量有抽取电压装置的电容式套管时,套管表面脏污

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用外加的特制可调电源,向测量回路上施加一个反干扰电压,使电桥平衡后再加试验电压的方法称为屏蔽法。

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。

考题 采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。

考题 现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,温度对tanØ测量结果影响很大。尤其当试验温度小于0℃或天气潮湿(相对湿度大于85%)条件下测得的tanØ值,不能反映设备的实际绝缘状况。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,设备温度不同,所测得的tanØ值不同。但可以用一个典型的温度换算系数进行tanØ的温度换算。

考题 QS1型交流电桥测量时,影响tanØ测量值因素主要有()A、电场干扰B、温度影响C、被试设备局部绝缘缺陷的影响D、测量电压的影响

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,试验电源频率对测量值有一定影响。在一频率范围内,随频率的增加,tanØ值增加。当超过某一频率f0时,tanØ值随频率的增加而下降。这是由介质内极化分子“转向”能否跟上频率变化所决定的。

考题 介质损失角正切值tanσ的测量通常采用()。A、高压交流平衡电桥B、晶体管兆欧表C、直流双臂电桥D、直流单臂电桥

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,影响测试结果的因数包括()。A、温度、湿度的影响B、电场干扰影响C、外界磁场的影响D、试品表面泄漏的影响

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,应尽量选择与历次试验相近温度条件下进行绝缘tanØ试验。

考题 判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A 对B 错

考题 判断题采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。A 对B 错

考题 判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变电压的相位,测量tanδ的方法选相倒相法。A 对B 错