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tanδ值是绝缘在某一状态下固有的值,它和绝缘材料的形状、尺寸无关。()


参考答案

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考题 绝缘材料的绝缘强度通常指()厚绝缘材料所能承受的电压千伏值。 A、0.5mmB、1mmC、1.5mmD、2mm

考题 在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对B错

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错

考题 真实值是在某一(),某一()或状态下,被测量的真正大小。

考题 500kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为()合格。A、0.6%B、0.1%C、1.5%D、0.8%

考题 在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。

考题 当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。

考题 测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗正切值tanδ和电容值,应符合下列规定:在温室不低于()℃ 下。A、10%B、20%C、30%D、40%

考题 绝缘材料的绝缘强度是指()厚绝缘材料所能承受的电压千伏值。

考题 500kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为0.8%合格。

考题 绝缘材料的耐热性是指绝缘材料在某一温度下能长期使用而不会破坏其绝缘性能及正常使用寿命的性质。

考题 tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。A、良好绝缘B、绝缘中存在气隙C、绝缘受潮

考题 绝缘强度是指绝缘材料被外部施加的电压击穿时的电压值。()

考题 110kV~220kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为1.5%合格。

考题 测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值,应符合以下规定()A、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型电容式油浸纸tanδ(%)最大值0.7(500kV套管0.5);B、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型电容式气体tanδ(%)最大值1.5;C、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型非电容式浇铸树脂tanδ(%)最大值2.0;D、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型非电容式复合绝缘tanδ(%)最大值由供需双方商定;E、电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比,其差值应在±5%范围内。

考题 电缆的电压等级越高,绝缘材料的介质损耗角正切值越大。

考题 ()指零件在加工以后几何参数(尺寸、形状和位置)的实际值与理想值的符合程度。A、设计精度B、尺寸精度C、加工精度D、几何精度

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。A、不够灵敏B、较灵敏C、与整体分布性缺陷具有同样的灵敏度

考题 当断路器电容器的tanδ值不符合要求时,应综合分析tanδ与()的关系,查明原因。A、绝缘电阻B、电流C、电压D、并联均压电容值

考题 500kV电抗器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值不大于()。A、0.4%B、0.5%C、0.6%D、0.8%

考题 35kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为1.5%不合格。

考题 有n个试品的介质损耗因数分别为tanδl、tanδ2、tanδ3、…、tanδn,若将它们并联在一起测得的总tanδ值必为tanδl、…、tanδn中的()。A、最大值B、最小值C、平均值D、某介于最大值与最小值之间的值

考题 单选题tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()A 良好绝缘B 绝缘中存在气隙C 绝缘受潮

考题 填空题真实值是在某一(),某一()或状态下,被测量的真正大小。

考题 判断题绝缘强度是指绝缘材料被外部施加的电压击穿时的电压值。()A 对B 错

考题 判断题当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A 对B 错