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用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法()
- A、Downs分析法
- B、Steiner分析法
- C、Tweed分析法
- D、Wits分析法
- E、Wylie分析法
参考答案
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考题
X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段,因为它提供有关于下列哪些信息a.上、下颌基骨与颅底的关系b.上前牙与上颌基骨的关系c.下前牙与下颌基骨的关系d.上下颌前牙的相互关系e.正畸治疗的进展A、只有abcB、abcdC、adeD、bceE、以上均正确
考题
多选题这些术前准备有( )。A应拍头部正、侧位片、头影测量片,做标准的头影测量分析B对比鼻下点、颏点、上下颌牙中线、颏中线、颅颌中线的关系C对比软组织颏点与骨性颏点的关系D根据腕、手的骺闭合情况评价颌骨发育或生长是否已经终止E颞下颌关节的检查F下颌角突度及对称性评估
考题
单选题反映下颌骨相对于颅部的前后位置关系的头影测量项目()。A
Go-GnB
Y轴角C
ANBD
SNBE
SNA
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