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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。

  • A、干涉
  • B、叠加
  • C、衍射
  • D、驻波

参考答案

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考题 超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法

考题 以下指出混响产生的条件最准确的是A、超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B、超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C、超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D、超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E、超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)

考题 以下哪种方法不属于纵波直探头法()A、单晶直探头脉冲反射法B、双晶直探头脉冲反射法C、多晶直探头脉冲反射法D、穿透法

考题 在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有()A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、接收探头接收到的能量的增强

考题 在厚焊缝单探头探伤中,垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能:()A、用45°斜探头探出B、用直探头探出C、用任何探头探出D、反射讯号很小而导致漏检

考题 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法

考题 若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A、采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂

考题 脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。

考题 在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高

考题 识别混响伪像最好的方法是()。A、将探头在胸壁表面平行移动B、将探头在腹壁表面平行移动C、将探头适当侧动,勿垂直于胸壁或腹壁,多次气体反射消失D、将探头适当侧动,并适当加压,观察多次反射有无变化E、将探头垂直于胸壁或腹壁表面,看到特征性多次气体反射即可

考题 论述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。

考题 从超声波近场声压不规则的角度考虑,脉冲反射法不适宜薄板探伤。

考题 中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

考题 指出混响产生的条件哪项最准确()。A、超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B、超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C、超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D、超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E、超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)

考题 带有斜楔的探头可用于()。A、双晶片垂直法探伤B、斜射法探伤C、纵波垂直法探伤D、反射法探伤

考题 在直探头探伤中,当扩散声束射到侧面上时,产生波的反射,并引起()。

考题 在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有

考题 多次脉冲反射法,不能用来判断工件中缺陷的严重程度。

考题 单选题若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A 采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B 转换为横波探伤C 用水做耦合剂D 不加耦合剂

考题 填空题中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

考题 单选题超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是()A 反射法B 穿透法C 底面多次回波法D 底面一次回波反射法法

考题 单选题以下哪种方法不属于纵波直探头法()A 单晶直探头脉冲反射法B 双晶直探头脉冲反射法C 多晶直探头脉冲反射法D 穿透法

考题 单选题带有斜楔的探头可用于()。A 双晶片垂直法探伤B 斜射法探伤C 纵波垂直法探伤D 反射法探伤

考题 单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度()A 直探头探伤法B 脉冲反射法C 斜探头探伤法D 穿透法

考题 问答题简述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。

考题 单选题指出混响产生的条件哪项最准确()。A 超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B 超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C 超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D 超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E 超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)