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采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成块状物、糊膏、粉剂或液体，用于填补工件不同厚度部分，使工件的透照厚度趋于一致，这种方法被称之为（）。

  • A、补偿
  • B、垫板
  • C、抗散射
  • D、以上都不是

参考答案

更多 “采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成块状物、糊膏、粉剂或液体，用于填补工件不同厚度部分，使工件的透照厚度趋于一致，这种方法被称之为（）。A、补偿B、垫板C、抗散射D、以上都不是” 相关考题
考题 像质剂通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。
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考题 DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）
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考题 对环焊缝作源在外的单壁透照时，确定透照次数与（）相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
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考题 采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成，用于填补工件不同厚度部分，使工件的透照厚度趋于一致，这种被称之为（）A、补偿块B、补偿粉C、补偿液D、以上都是
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考题 对环焊缝X射线照相，源在外的双壁透照，有效透照长度与焦距的关系是（）A、焦距越大，有效透照长度越小B、焦距等于工件直径时有效长度最大C、以上都对
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考题 用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（）分钟。
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考题 内冷铁通常用与铸件相同或相近的材料制成。
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考题 被检工件的形状、厚度有差异时，可以采用哪些补偿方法进行射线照相？（）A、液体补偿法B、糊膏补偿法C、固体补偿法D、以上都可以
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考题 标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。
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考题 应用几何原理的原则是（）A、选取尺寸尽量大的射线源B、射线源到被透照工件的距离尽可能小C、胶片离被透照工件尽可能远D、中心射线尽可能垂直于胶片平面
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考题 散射比n随（）的变化而改变。A、射线光子的能谱B、被透照物质的性质C、被透照物质的厚度D、以上都是
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考题 像质计的材质应为（）A、不锈钢B、钢C、铝D、与被照物有相同射线吸收系数的材料
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考题 对环焊缝X射线照相，源在外的单壁透照，有效透照长度与焦距的关系是（）A、焦距越大，有效透照长度越小B、焦距越大，有效透照长度越大C、焦距等于工件直径时有效长度最大
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考题 窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A、窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是铅板遮盖工件非透照部分。
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考题 在一定的管电压下，达到相同射线吸收效果的标准材料厚度与被检材料厚度之比，称为（）。
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 单选题窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A 窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B 宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C 窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D 以上B和C均正确
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考题 单选题被检工件的形状、厚度有差异时，可以采用哪些补偿方法进行射线照相？（）A 液体补偿法B 糊膏补偿法C 固体补偿法D 以上都可以
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考题 判断题标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。A 对B 错
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考题 单选题应用几何原理的原则是（）A 选取尺寸尽量大的射线源B 射线源到被透照工件的距离尽可能小C 胶片离被透照工件尽可能远D 中心射线尽可能垂直于胶片平面
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考题 单选题对环焊缝X射线照相，源在外的双壁透照，有效透照长度与焦距的关系是（）A 焦距越大，有效透照长度越小B 焦距越大，有效透照长度越大C 焦距等于工件直径时有效长度最小
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考题 单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 判断题DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）A 对B 错
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考题 判断题像质剂通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。A 对B 错
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考题 单选题像质计的材质应为（）A 不锈钢B 钢C 铝D 与被照物有相同射线吸收系数的材料
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考题 单选题采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成，用于填补工件不同厚度部分，使工件的透照厚度趋于一致，这种被称之为（）A 补偿块B 补偿粉C 补偿液D 以上都是
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