考题
用工件底面调整探伤灵敏度( )。A、容易确定缺陷的位置B、定量较准确C、可以不考虑工件表面的耦合补偿D、杂波干扰少
考题
锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。
A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()。
A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
考题
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
考题
用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A、 底面与检测面不平行B、 工件内部有倾斜的大缺陷C、 工件内部有材质率减大的部位D、 以上都对
考题
垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
考题
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
考题
饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度，对工件底面有何要求？
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
考题
锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A、 探头接触不良B、 遇到了材质衰减大的部位C、 工件底面不平整D、 以上都对
考题
直探头从端面对长条形工件探伤时，容易产生（）。A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波
考题
（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A、 一次波法B、 二次波法C、 底面回波法D、 以上都不是
考题
在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A、 探头接触不良B、 遇到材质衰减大的部位C、 工件底面不平或工件内部有缺陷D、 以上都对
考题
纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
考题
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
考题
填空题垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
考题
单选题用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A
底面与检测面不平行B
工件内部有倾斜的大缺陷C
工件内部有材质率减大的部位D
以上都对
考题
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
考题
单选题锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A
探头接触不良B
遇到了材质衰减大的部位C
工件底面不平整D
以上都对
考题
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A
底面与探伤面不平行B
工件内部有倾斜的大缺陷C
工件内部有材质衰减大的部位D
以上都有可能
考题
单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A
尽可能靠近侧壁；B
离侧壁10mm；C
离侧壁一个探头直径的距离处；D
离侧壁二个探头直径的距离处。
考题
单选题用工件底面调整探伤灵敏度（）A
容易确定缺陷的位置B
定量较准确C
可以不考虑工件表面的耦合补偿D
杂波干扰少
考题
单选题在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A
探头接触不良B
遇到材质衰减大的部位C
工件底面不平或工件内部有缺陷D
以上都对
考题
单选题（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A
一次波法B
二次波法C
底面回波法D
以上都不是