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单选题
电子元件故障分析中的摄影和光学显微技术可应用于影像记录这个领域内，那么其放大倍数在（）区间内我们称之为宏观摄影？
A
≤1
B
1～20
C
1～50
D
1～100
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考题
应用光或其他能量表现被照体信息状态,并以可见影像加以记录的技术称A.影像B.摄影SXB
应用光或其他能量表现被照体信息状态，并以可见影像加以记录的技术称A.影像B.摄影C.信息信号D.成像系统E.摄影程序
考题
关于X线摄影中影像放大的说法，错误的是A．X线摄影的影像放大是必然的B．取决于焦-肢-片间的几何关系C．放大率越大，照片清晰度就越高D．摄影时焦点面积限制放大倍数E．放大可以引起放大失真现象
考题
应用X线能量表现被照体信息状态,并以可见光学影像记录的技术称为A.影像B.信息信号SX
应用X线能量表现被照体信息状态，并以可见光学影像记录的技术称为A.影像B.信息信号C.成像系统D.摄影程序E.X线摄影
考题
关于X线摄影中影像放大的说法，错误的是A.X线摄影的影像放大是必然的B.取决于焦一肢一片间的几何关系C.放大率越大，照片清晰度就越高D.摄影时焦点面积限制放大倍数E.放大可以引起放大失真现象
考题
关于X线摄影中影像放大的说法，错误的是（）A、X线摄影的影像放大是必然的B、取决于焦-肢-片间的几何关系C、放大率越大，照片清晰度就越高D、摄影时焦点面积限制放大倍数E、放大可以引起放大失真现象
考题
失效分析中常常注重宏观缺陷观察，以下缺陷不属于宏观缺陷的有（）A、肉眼可见或使用不超过10X放大倍数的放大镜下观察到的缺陷B、10X以上放大倍数的显微镜下观察到的缺陷C、用扫描电子显微镜观察到的缺陷D、250X放大倍数的光学金相显微镜下观察到的缺陷
考题
单选题金属的宏观缺陷是指（）。A
肉眼可见或使用不超过10X放大倍数的放大镜下观察到的缺陷B
10X以上放大倍数的显微镜下观察到的缺陷C
用扫描电子显微镜观察到的缺陷D
250X放大倍数的光学金相显微镜下观察到的缺陷
考题
多选题失效分析中常常注重宏观缺陷观察，以下缺陷不属于宏观缺陷的有（）A肉眼可见或使用不超过10X放大倍数的放大镜下观察到的缺陷B10X以上放大倍数的显微镜下观察到的缺陷C用扫描电子显微镜观察到的缺陷D250X放大倍数的光学金相显微镜下观察到的缺陷
考题
填空题将（）转换成（），是放大摄影的主要优点。放大摄影技术禁用于做（）及使用（）摄影技术。
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