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多选题
如果组内样本中其中一个数严重偏离,使用以下哪种控制图可以有效监察到:()。
A
X Chart
B
R Chart
C
S Chart
D
Trend Chart
参考答案
参考解析
解析:
暂无解析
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考题
在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是:()
A.使用C控制图最方便B.也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便C.也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便D.使用np控制图,效果和C控制图相同
考题
在性佳牌手机生产车间,要检测手机的抗脉冲电压冲击性能。由于是破坏性检验,成本较高,每小时从生产在线抽一部来作检测,共连续监测4昼夜,得到了96个数据。六西格玛团中,王先生主张对这些数据画“单值-移动极差控制图”,梁先生主张将3个数据当作一组,对这32组数据作“Xbar-R控制图”。这时你认为应使用的控制图是:
A.只能使用单值-移动极差控制图B.只能使用“Xbar-R控制图”C.两者都可以使用,而以“Xbar-R控制图”的精度较好D.两者都可以使用,而以“单值-移动极差控制图”的精度较好
考题
抽取子组绘制控制图时,应做到( )。A.子组内产品尽量在短间隔内抽取B.子组样本量越小判断越准确C.过程稳定性好,子组间隔可以扩大D.子组间隔越大越好E.均值一极差图通常取的子组大小为4或5
考题
对应GradientBoostingtree算法,以下说法正确的是:( )
A.当增加最小样本分裂个数,我们可以抵制过拟合B.当增加最小样本分裂个数,会导致过拟合C.当我们减少训练单个学习器的样本个数,我们可以降低varianceD.当我们减少训练单个学习器的样本个数,我们可以降低bias
考题
关于控制图控制限的说法,正确的有( )。A.分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关B.收集的子组个数越多,控制限估计得越准确C.控制用控制图的控制限由分析用控制图的控制限转化而来D.控制用控制图的控制限一旦确定,就不能变更E.可以用规范限代替控制限
考题
下列选择适宜控制图进行过程监控的做法中,正确的有( )。
A.对于产品质量稳定、均匀的过程可以选用单值图
B.计量控制图的检出力高于计数控制图
C.计量控制图与计数控制图具有相同的控制时效性
D.使用X-R图时样本量(子组大小)宜取4或5
E.使用p图和u图时样本量(子组大小)必须为常数
考题
关于绘制控制图的说法,正确的有( )。
A.分析用X-s控制图的子组个数一般取20~25个
B.子组大小和抽样频率的确定应遵从合理子组原则
C.样本点的绘制应按发生的先后顺序进行
D.只要控制用控制图判异,就应该重新绘制
E.只要分析用控制图判稳,就应该转为控制用控制图监控过程
考题
关于极差控制图的说法,正确的有()。
.极差的计算公式为子组中最大值与最小值的差
B.当子组样本量大于10时,不适宜使用极差控制图
C.极差控制图主要用于分析分布中心的波动
D.极差控制图计算简便
E.在分析阶段与均值控制图联合使用时,应先分析均值控制图
考题
在使用均值-极差控制图或均值-标准差控制图监控生产特性指标时,样本量的大小和抽样的频率的选取很重要。抽取样本的基本原则是()。A、样本含量一定要与产量成比例B、过程能力指数Cp和Cpk越高,样本含量越大C、样本子组内差异只由普通原因造成,样本子组间差异可能由特殊原因造成D、样本含量只能选取5个
考题
在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是()A、使用C控制图最方便B、也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便C、也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便D、使用np控制图,效果和C控制图相同
考题
下列对Xbar-R(均值-极差)控制图的描述,错误说法是:()A、Xbar-R(均值-极差)控制图适用于任意子组样本含量的情形B、子组样本含量越大,控制限的幅度越大C、子组样本含量选择一般为2D、均值控制图只能检测均值的变化,不能检测方差的变化
考题
X-R Chart控制图相应R Chart的控制下限是否为零与以下哪些因素有关:()。A、收集Raw Data组数的多少B、收集Raw Data计算组内均值的大小C、收集Raw Data组内样本数的大小D、收集Raw Data组间样本数的大小
考题
某工程师为了分析洗衣机箱体的尺寸,上午9点连续收集了10个箱体尺寸,下午1点收集了10个数据,下午4点收集了10个数据,假设这30个数据稳定、正态,请问哪个答案是正确的:()A、可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,可以使用这30个数据进行Cpk计算B、可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,不可以使用这30个数据进行Cpk计算C、不可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,可以使用这30个数据进行Cpk计算D、不可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,也不可以使用这30个数据进行Cpk计算
考题
多选题下列对Xbar-R(均值-极差)控制图的描述,错误说法是:()AXbar-R(均值-极差)控制图适用于任意子组样本含量的情形B子组样本含量越大,控制限的幅度越大C子组样本含量选择一般为2D均值控制图只能检测均值的变化,不能检测方差的变化
考题
单选题某工程师为了分析洗衣机箱体的尺寸,上午9点连续收集了10个箱体尺寸,下午1点收集了10个数据,下午4点收集了10个数据,假设这30个数据稳定、正态,请问哪个答案是正确的:()A
可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,可以使用这30个数据进行Cpk计算B
可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,不可以使用这30个数据进行Cpk计算C
不可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,可以使用这30个数据进行Cpk计算D
不可以使用I-MR控制图进行稳定性研究,也不可以使用这30个数据进行Cpk计算
考题
单选题X-R Chart控制图相应R Chart的控制下限是否为零与以下哪些因素有关:()。A
收集Raw Data组数的多少B
收集Raw Data计算组内均值的大小C
收集Raw Data组内样本数的大小D
收集Raw Data组间样本数的大小
考题
单选题在使用均值-极差控制图或均值-标准差控制图监控生产特性指标时,样本量的大小和抽样的频率的选取很重要。抽取样本的基本原则是( )。A
样本含量一定要与产量成比例。B
过程能力指数Cp和Cpk越高,样本含量越大。C
样本子组内差异只由普通原因造成,样本子组间差异可能由特殊原因造成。D
样本含量只能选取5个。
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