考题
超声波探伤,若仪器的重复频率过高,示波屏上将产生()信号,易造成错判。A.草状回波B.固定回波C.幻像D.杂波
考题
超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生( )信号，易造成错判。A、草状回波B、固定回波C、幻像D、杂波
考题
采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是( )。A、细晶组织B、耦合剂不清洁C、表面粗糙D、粗晶组织
考题
在荧光屏上构成均匀分布呈现无规则的亮点杂波是雨雪干扰。此题为判断题(对，错)。
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪的”重复频率“调得过高，可能发生()A.荧光屏”噪声“信号过高
B.时基线倾斜
C.始脉冲消失
D.容易出现“幻象波”
考题
荧光屏图形上产生大量杂波的原因可能是（）。A、裂纹B、大灰渣C、粗晶材料D、气孔
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）A、荧光屏"噪声"信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现"幻象波"
考题
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A、 荧光屏“噪声”信号过高B、 时基线倾斜C、 始脉冲消失D、 容易出现“幻像波”
考题
在手工探伤中一般使用直接接触法而不使用（）。原因是液浸法手工探伤时难以保持稳定；直接接触法探伤，方法简单、使用方便。
考题
在手工探伤中一般使用直接接触法而不使用液浸法，原因是（）。A、液浸法手工探伤时难以保持稳定B、直接接触法探伤，方法简单C、直接接触法探伤，使用方便D、以上都对
考题
采用直接接触法超声波探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A、细晶组织；B、耦合剂不清洁；C、表面粗糙；D、粗晶组织
考题
A型显示超声波探伤仪荧光屏上时基线是由扫描电路产生的（）形成的。
考题
A型显示超声波探伤仪，使荧光屏产生扫描线的电路为（）电路。
考题
A型显示超声波探伤仪，为使反射回波由下向上显示在荧光屏上，视频放大信号应接在（）。
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A、荧光屏“噪声”信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现“幻像波”
考题
用接触法进行超声波探伤时，从理论上讲，耦合层厚度为λ/2的整数倍时，透声效果好。
考题
A型显示超声波探伤仪，为使反射回波由下向上显示在荧光屏上，视放信号应接在（）上。
考题
单选题采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A
细晶组织B
耦合剂不清洁C
表面粗糙D
粗晶组织
考题
单选题荧光屏图形上产生大量杂波的原因可能是（）。A
裂纹B
大灰渣C
粗晶材料D
气孔
考题
填空题A型显示超声波探伤仪荧光屏上时基线是由扫描电路产生的（）形成的。
考题
单选题超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生（）信号，易造成错判.A
草状回波B
固定回波C
幻像D
杂波
考题
单选题采用直接接触法超声波探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A
细晶组织；B
耦合剂不清洁；C
表面粗糙；D
粗晶组织
考题
单选题锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
填空题A型显示超声波探伤仪，为使反射回波由下向上显示在荧光屏上，视放信号应接在（）上。
考题
填空题A型显示超声波探伤仪，为使反射回波由下向上显示在荧光屏上，视频放大信号应接在（）。
考题
单选题锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”