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单选题
JB/T4730-2005中规定，环形焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔的放置（）个像质。
A
1个
B
2个
C
3个
D
4个
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考题
按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:T型焊缝接头超声检测适用于下列范围:()
A.允许未焊透的熔化焊T型对接接头B.可适用于铝及铝合金焊接全熔化焊T型焊接接头C.只适用钢焊接全熔化焊T型焊接接头D.只适用腹板与翼板成90°的全熔化焊T型焊接接头
考题
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
考题
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
考题
以下关于象质计放置的叙述，哪一条不符合ASME规范的有关规定（）A、通常每张底片上至少应有一个象质计；B、环缝周向曝光中心透照法，至少应放4个象质计；C、对于环缝垂直相交的纵焊缝，如与环焊缝同时曝光，则应在纵焊缝远端放一个象质计。D、球形容器全景曝光则应在每条环缝各放3个象质计，其余焊缝，每条放1个象质计。
考题
在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计
考题
按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：T型焊缝接头超声检测不适用于下列范围：（）A、允许未焊透的熔化焊T型对接接头B、可适用于铝及铝合金焊接全熔化焊T型焊接接头C、只适用钢焊接全熔化焊T型焊接接头D、只适用腹板与翼板成90°的全熔化焊T型焊接接头
考题
根据JB/T4730-2005标准规定，标记的放置要求为：（）A、放置在距焊缝5mm以内的部位B、所有标记的影像不应重叠C、所有标记均应放置在源侧工件表面D、不应有干扰有效评定范围的影像
考题
根据JB/T4730-2005标准规定，关于圆形缺陷的质量分级，以下叙述正确的是：（）A、圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形B、在标准规定的条件下，各级别的圆形缺陷点数可放宽1～2点C、当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量级别应评为Ⅳ级D、质量等级为Ⅰ级和Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级
考题
单选题以下有关放置像质计的说法正确的是（）A
原则上每一张射线底片都应放置像质计B
周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C
像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D
以上都对
考题
单选题JB/T4730-2005中，采用X射线照相，当焦距为700时，A级和AB级曝光量推荐值为（）A
10mA·；minB
12mA·；minC
15mA·；minD
20mA·；min
考题
单选题以下关于象质计放置的叙述，哪一条不符合ASME规范的有关规定（）A
通常每张底片上至少应有一个象质计；B
环缝周向曝光中心透照法，至少应放4个象质计；C
对于环缝垂直相交的纵焊缝，如与环焊缝同时曝光，则应在纵焊缝远端放一个象质计。D
球形容器全景曝光则应在每条环缝各放3个象质计，其余焊缝，每条放1个象质计。
考题
单选题JB/T4730-2005中规定，环形焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔的放置（）个像质。A
1个B
2个C
3个D
4个
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