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判断题
两个质控品连续两次测定都超过均数1个标准差，Westgard多规则中表示为21s。
A
对
B
错
参考答案
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解析：
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考题
R4s规则指的是A．同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过均值 2s，另一质控结果超过均值-2s，表示存在随机误差B．一个质控结果超过均值?3s，为违背此规则，提示存在随机误差C．两个连续质控结果同时超过均值 2s或均值-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D．一个质控品连续的四次测定结果都超过均值 1s或均值一1s，或两个质控品连续两次测定都超过均值 1s或均值一1s，为违背此规则，表示存在系统误差E．十个连续的质控结果在平均数一测，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
Westgard质控图与Levey-Jennings图的主要区别是前者A、可以区分系统误差和随机误差B、同时测定低值及高值两个质控品C、考虑了“多个”质控规则D、使用测定值的标准差做图E、以选定变异系数做图
考题
关于Westgard多规则质控图，叙述错误的是A、Westgard多规则质控图是将多规则质控方案同Levey-Jennings质控图结合起来B、多规则质控方法的使用类似于Levey-Jennings质控图的使用，但是质控结果的解释更具有结构化C、Westgard质控图中以不同的颜色表示不同的控制限水平D、多规则质控方法的使用使假失控率增高，误差检出率增高，更易检出随机误差和系统误差，因此，临床应用日趋广泛E、常用的多规则质控方法包括12s、13s、22s、R4s、10等
考题
22S指的是（）A同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过X+1s或X-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
13S指的是表示存在随机误差（）A同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2sB一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
下列关于常用质控规则的说法中正确的是（）A、41S：一个质控品连续4次测定结果都超过x+1s或x－1s，再加上2个质控品连续两次测定都超过x+1s或x－1s，为违背此规则，表示存在随机误差B、12s：一个质控结果超过x±2s，如违背此规则，提示失控C、R4s：同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过x+2s，另一质控结果超过x－2s，表示存在系统误差D、22s：两个连续质控结果同时超过x+2s或x－2s，为违背此规则，表示存在随机误差E、10x：十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题Westgard质控图与Levey-Jennings图的主要区别是前者（）A
可以区分系统误差和随机误差B
同时测定低值及高值两个质控品C
考虑了“多个”质控规则D
使用测定值的标准差做图E
以选定变异系数做图
考题
填空题四个个连续的质控测定值同时超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差，该质控规则为_______。
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