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用光谱分析仪在分波板下波后测试的信噪比会比在分波板输入口测试的信噪比的值()
- A、大一些
- B、小一些
- C、相同
参考答案
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考题
下面关于信噪比的描述,错误的是()
A.波分系统中大量使用EDFA是造成信噪比劣化的最重要原因;B.信号经过多级WLA级联后比经过多级WBA级联后的信噪比劣化严重一些;C.用光谱分析仪在D40单板下波后测试的信噪比会比在IN口测试的信噪比的值要大一点;D.提高信噪比的方法是提高光功率,因此光功率高信噪比就一定高
考题
OTN网络中有关插损的说法正确的是( )
A.插损是分波器或合波器的单个物理通道指标B.每通道插损即每通道光信号经过光复用器件相应通道后输出光功率的损耗C.在一般的插损测试中,分波器的所有通道的插损值应该完全相等,所以只需对其中某一个通道测试即可D.对于分波器的插损测试,可以利用仪表发光,然后输入分波器的输入端口并测试输入光功率,再逐个测试分波器的输出端口的光功率,所对应的光功率差值即为个通道插损
考题
以下关于板波性质的叙述,哪条是错误的()A、按振动方向分,板波可分为SH波和兰姆波,探伤常用的是兰姆波B、板波声速不仅与介质特性有关,而且与板厚、频率有关C、板波声速包括相速度和群速度两个参数D、实际探伤应用时,只考虑相速度,无须考虑群速度
考题
DWDM系统中如果单波信噪比不达标那么原因可能有?()A、非线性效应导致个别波道信噪比不达标B、波长偏移导致个别波道信噪比不达标C、通道光功率异常导致信噪比不达标D、合波、分波板硬件故障导致波道信噪比不达标
考题
有关插损的说法正确的是()。A、每通道插损即每通道光信号经过光复用器件相应通道后输出光功率的损耗;B、插损不是分波器或合波器的单个物理通道指标;C、在一般的插损测试中,分波器的所有通道的插损值应该完全相等,所以只需对其中某一个通道测试即可;D、对于分波器的插损测试,可以利用仪表发光,然后输入分波器的输入端口并测试输入光功率,再逐个测试分波器的输出端口的光功率,所对应的光功率差值即为个通道插损。
考题
在M600设备中,对OMD单板的描述错误的是()A、OMD5-1:提供4+1个波长的合分波功能,并提供一个升级口接入OMD4-5板的合波信号。合分波的起始波长为1471nm,“+1”表示1310nm通道B、OMD4-1:提供4个波长的合分波功能,并提供一个升级口接入OMD4-5板的合波信号。合分波的起始波长为1471nm,不提供1310nm通道C、OMD4-5:提供4个波长的合分波功能,合波信号送入OMD5-1或OMD4-1板的升级接口。合分波的起始波长为1551nmD、OMD4-5:提供4个波长的合分波功能,合波信号送入OMD5-1或OMD4-1板的升级接口。合分波的起始波长为1471nm
考题
某波分系统工程,配置第1~20波OTU,调测时用光谱分析仪测试合波板(AWG型)输出口,发现某波的光功率明显低于其他19波,请问可能的原因是()。A、该波OTU线路侧发光偏小B、该波OTU线路侧波长偏移过大C、合波板对该波插损过大D、OBA对该波增益过小
考题
下面关于分波板D40指标测试的描述,正确的是()A、相邻通道隔离度要求越小越好,非相邻通道隔离度要求越小越好B、各通道插损的最大差异要求越小越好C、分波器的中心波长测试中,测试值只能选-3dB谱宽的中心波长,否则测试无法通过D、可以采用对应波长的OTU输出的信号做为分波板输入光源进行测试
考题
下面关于信噪比的描述,错误的是:()A、波分系统中大量使用EDFA是造成信噪比劣化的最重要原因B、信号经过多级OLA级联后比经过多级OBA级联后的信噪比劣化严重一些C、光谱分析仪在ODU单板下波后测试的信噪比会比在IN口测试的信噪比的值要大一点D、提高信噪比的方法是提高光功率,因此光功率高信噪比就一定高
考题
多选题DWDM系统中如果单波信噪比不达标那么原因可能有?()A非线性效应导致个别波道信噪比不达标B波长偏移导致个别波道信噪比不达标C通道光功率异常导致信噪比不达标D合波、分波板硬件故障导致波道信噪比不达标
考题
单选题以下关于板波性质的叙述,哪条是错误的()A
按振动方向分,板波可分为SH波和兰姆波,探伤常用的是兰姆波B
板波声速不仅与介质特性有关,而且与板厚、频率有关C
板波声速包括相速度和群速度两个参数D
实际探伤应用时,只考虑相速度,无须考虑群速度
考题
填空题钢轨探伤仪的增益和抑制均为最大,在GTS-60试块上测试信噪比,37°探头基准反射波为()和3mm上裂等高双波。
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