考题
37°和70°。探头同接一个通道,探测同一深度的横孔时,37°探头出波位置()。A.与70°相同B.在70°探头之前C.在70°探头之后D.与45°探头相同
考题
通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。
A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能
考题
下列几种直探头在探测同一材料时,具有最大干涉区的是()
A、1PZ14B、2.5PZ14C、1PZ20D、2.5PZ30
考题
轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤
考题
纵波直探头在检测工件时，有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响（）。A、 影响缺陷的定量B、 影响缺陷的定位C、 影响缺陷的定量 、定位D、 检测结果评级的影响
考题
通常所称的流动缺陷回波是指用直探头探测到的。
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
由于管座角焊缝中危害最大的是未熔合和裂纹等纵向缺陷，因此一般以纵波直探头探测为主。
考题
双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，覆盖区愈大。
考题
饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
考题
用直探头探测焊缝两侧母材的目的是（）A、探测热影响区裂缝B、探测可能影响斜探头探测结果的分层C、提高焊缝两侧母材验收标准，以保证焊缝质量D、以上都对
考题
直探头的近场区成为不可探测区，需用双芯片直探头进行探测。
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列斜探头
考题
37°和70°探头同接一个通道，探测同一深度的横孔时，37°探头出波位置（）。A、与70°相同B、在70°探头之前C、在70°探头之后D、与45°探头相同
考题
以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测
考题
通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头
考题
判断题直探头的近场区成为不可探测区，需用双芯片直探头进行探测。A
对B
错
考题
单选题以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A
直探头在翼板上扫查探测B
斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C
直探头在腹板上扫查探测D
斜探头在腹板上扫查探测
考题
单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A
尽可能靠近侧壁；B
离侧壁10mm；C
离侧壁一个探头直径的距离处；D
离侧壁二个探头直径的距离处。
考题
判断题双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，复盖区愈大。A
对B
错
考题
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A
直探头端面探伤B
直探头侧面探伤C
斜探头端面探伤D
斜探头侧面探伤
考题
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A
单斜探头法B
单直探头法C
双斜探头前后串列法D
分割式双直探头法
考题
单选题以下哪一种探测方法不适宜Ｔ型焊缝（）A
直探头在翼板上扫查探测B
斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C
直探头在腹板上扫查探测D
斜探头在腹板上扫查探测