考题
THDS-A探测系统探头标定的半月检标准是（）A、误差在±0.5℃以内B、误差在±1℃以内C、误差在±1.5℃以内D、误差在±2℃以内
考题
THDS-A探测系统中光子探头工作方式为（）A、直流探头B、调制探头C、热敏探头D、热释电探头
考题
THDS-A探测系统控制箱电路板的大修检标准是（）A、直接更换B、无扭曲变形，无烧焦斑痕，接插脚无损坏、无腐蚀、无剥离C、探测数据、实时数据正常D、功放板：大门、热靶、调制盘电机动作正常
考题
属于THDS-A红外轴温探测系统内探功放板作用的是（）A、控制大门的开关B、控制热敏探头调制盘电机C、控制光子探头调制盘电机D、内探热靶的加热E、外探热靶的加热
考题
THDS-A探测系统直流探头的大修标准是（）A、直接更换B、探头在保持状态下噪声Vp-p＜100mVC、5分钟漂移200mVD、探头标定：误差在±1℃以内
考题
THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可划分为（）探头和直流探头。A、脉冲B、调制C、感应D、接触
考题
THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为（）A、热敏探头和光子探头B、调制探头和光子探头C、热敏探头和直流探头D、调制探头和直流探头
考题
THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A、探头输出电压B、热靶温度C、调制盘温度D、板温
考题
THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列（）部件的电源控制。A、光子探头B、热敏探头C、调制盘电机D、挡板电机E、热靶
考题
THDS-A探测系统中热敏探头工作方式为（）A、直流探头B、光子探头C、调制探头D、交流探头
考题
THDS-A探测系统中调制探头中测温元件为（）A、双浸没热敏电阻B、碲镉汞光子器件C、铂电阻D、普通电阻
考题
THDS-A探测系统轴箱扫描器的大修标准是（）A、直接更换B、箱体无破损C、热靶内阻：36±2ΩD、大门能够完全打开，无异物遮挡探头视场
考题
THDS-A探测系统中外探探头类型为（）A、热敏探头B、调制探头C、光子探头D、交流探头
考题
THDS-A轴温探测系统中来自于光子探头内部的温度信号是（）A、环境温度B、热靶温度C、机柜温度D、调制盘温度
考题
THDS-A探测系统中内探探头类型为（）A、热敏探头B、调制探头C、直流探头D、热释电探头
考题
THDS-A轴温探测系统调制盘位于（）A、热靶大门组件B、扫描器下上盖C、扫描器下箱体D、光子探头内部
考题
单选题THDS-A探测系统轴箱扫描器的大修标准是（）A
直接更换B
箱体无破损C
热靶内阻：36±2ΩD
大门能够完全打开，无异物遮挡探头视场
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A
探头输出电压B
热靶温度C
调制盘温度D
板温
考题
单选题THDS-A探测系统中内探探头类型为（）A
热敏探头B
调制探头C
直流探头D
热释电探头
考题
单选题THDS-A探测系统调制探头的大修标准是（）A
直接更换B
静态噪声：Vp-p＜100mVC
动态噪声：Vp-p＜150mVD
探头标定：误差在±1℃以内
考题
单选题THDS-A探测系统直流探头的大修标准是（）A
直接更换B
探头在保持状态下噪声Vp-p＜100mVC
5分钟漂移200mVD
探头标定：误差在±1℃以内
考题
单选题THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为（）A
热敏探头和光子探头B
调制探头和光子探头C
热敏探头和直流探头D
调制探头和直流探头
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可分为（）探头和直流探头。A
脉冲B
调制C
感应D
接触
考题
单选题THDS-A探测系统中热敏探头工作方式为（）A
直流探头B
光子探头C
调制探头D
交流探头
考题
单选题THDS-A探测系统中光子探头工作方式为（）A
直流探头B
调制探头C
热敏探头D
热释电探头
考题
单选题THDS-A探测系统中调制探头中测温元件为（）A
双浸没热敏电阻B
碲镉汞光子器件C
铂电阻D
普通电阻
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列（）部件的电源控制。A光子探头B热敏探头C调制盘电机D挡板电机E热靶