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在测量系统中,随着时间的变化,用相同测量系统对同一产品进行测量所得到偏倚的变化叫做()
- A、偏倚
- B、稳定性
- C、再现性
- D、重复性
参考答案
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考题
在测量系统分析时,我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异,其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的?()A、系统方差和偏倚B、噪声系统和重复性C、操作员的变异和仪器的变异D、重复性的变异和再现性的变异
考题
以下关于测量系统分析的说法正确的是()A、根据数据类型,测量系统可分为计量型测量系统分析和计数型测量系统分析B、计量型测量系统分析从准确性和精确性两方面去分析C、测量系统的准确性分析包含:偏倚、偏倚线性性、稳定性D、测量系统的精确性包含:重复性和再现性研究
考题
单选题在测量系统分析时,我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异,其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的?()A
系统方差和偏倚B
噪声系统和重复性C
操作员的变异和仪器的变异D
重复性的变异和再现性的变异
考题
单选题同一个员工用同一把量具多次测量同一个产品时得到不同的测量结果,我们把这一类测量系统误差叫做()A
分辨率B
准确性C
重复性D
再现性
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