考题
在厚焊缝斜探头检测时，宜使用什么方法标定仪器时基线（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法
考题
焊缝探伤锯齿形扫查时，斜探头可不必垂直焊缝中心线放置在检测面上。
考题
在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能：（）A、用45°斜探头探出B、用直探头探出C、用任何探头探出D、反射讯号很小而导致漏检
考题
焊缝探伤时，斜探头距离—波幅曲线的作用是（）A、调节检测灵敏度B、确定缺陷波幅C、测定缺陷指示长度D、A和B
考题
在中薄板焊缝斜探头探伤时，使用什么方法标定仪器时基线？（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、二次波法
考题
在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法
考题
在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（）A、提高探头声束指向性B、校准仪器扫描线性C、提高探头前沿长度和K值测定精度D、以上都对
考题
在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线？（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、二次波法
考题
检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。
考题
计算题：用k2探头探伤板厚为15mm对接焊缝，按水平1：1定位，在示波屏刻度板上水平刻度50mm处发现缺陷回波，求此缺陷位置？
考题
从斜探头入射点到缺陷在探伤面上投影点距离，称为探头焊缝距离。
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列斜探头
考题
焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A、缺陷定位B、判定缺陷波幅C、判定结构反射波和缺陷波D、判定缺陷性质
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列双斜探头
考题
选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。A、有利于发现缺陷B、不利于对缺陷定位C、可提高探伤灵敏度D、有利于对缺陷定位
考题
焊缝超声波探伤，主要用（）探伤法。A、纵波斜探头B、纵波直探头C、横波斜探头D、横波直探头
考题
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A、探伤灵敏度B、扫查密度C、定位精度D、定量精度
考题
单选题在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（）A
水平定位法B
深度定位法C
声程定位法D
一次波法
考题
单选题选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。A
有利于发现缺陷B
不利于对缺陷定位C
可提高探伤灵敏度D
有利于对缺陷定位
考题
单选题使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A
探伤灵敏度B
扫查密度C
定位精度D
定量精度
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适合用的方法是（）A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列双斜探头
考题
多选题焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A缺陷定位B判定缺陷波幅C判定结构反射波和缺陷波D判定缺陷性质
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列斜探头
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列双斜探头
考题
单选题在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能：（）A
用45°斜探头探出B
用直探头探出C
用任何探头探出D
反射讯号很小而导致漏检
考题
判断题从斜探头入射点到缺陷在探伤面上投影点距离，称为探头焊缝距离。A
对B
错
考题
单选题焊缝探伤时，斜探头距离—波幅曲线的作用是（）A
调节检测灵敏度B
确定缺陷波幅C
测定缺陷指示长度D
A和B