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填空题
用缺陷本身的最高波高为测长基准时称为()灵敏法。

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考题 绝对灵敏度测长法测得的缺陷指示长度与测长灵敏度有关,测长灵敏度高。缺陷长度( )。A.大B.不变C.小D.任意

考题 缺陷反射波只有一个高点,可用最大6dB法测长。

考题 一般来说,用交流电磁化,对表面微小缺陷检测灵敏高。

考题 后乳化型荧光法,对细小缺陷检验灵敏度高,但成本较高。

考题 根据测定缺陷长度时的灵敏度基准不同,可以将测长法分为()A、相对灵敏度法B、绝对灵敏度法C、当量灵敏度法D、端点峰值法

考题 接收灵敏度是指接收器能够正确将信号转换为数据的最微弱信号。灵敏度越(),传输距离越()。A、低;长B、高;长C、低;短D、高;短

考题 被检测焊缝厚度小于30mm时,X射线显示缺陷的灵敏度较γ射线(),透视时间()。A、低,短B、低,长C、高,长D、高,短

考题 对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。

考题 测长时一定注意定量灵敏度的准确性,下列说法正确的是()。A、 确定检测灵敏度以及对缺陷回波幅度进行准确的定量B、 一次波和一次反射波检测时,缺陷回波的幅度或其指示长度的测定,应以呈现最高波幅或测得最大指示长度的以此为准C、 在使用两种不同K值分别对同一焊缝检测时,应以K值小的为准测定缺陷长度D、 当缺陷回波高度降到测长线时探头移动的距离,即为缺陷的指示长度

考题 中心导体法检测工件端面缺陷比轴向通电法灵敏度高。

考题 绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时,测长灵敏度高,测得的缺陷()。

考题 相对灵敏度测长法是以缺陷的最高回波为相对基准,沿缺陷长度方向移动探头,降低一定分贝值来测定缺陷长度。其中较为常用的测长方法称为()法。

考题 横波探伤时,对大缺陷测长的方法一般常用()。A、最大波高衰减法B、端点最大波高衰减法C、波高限度法D、上述都对

考题 用缺陷本身的最高波高为测长基准时称为()灵敏法。

考题 用缺陷本身的最高波高为测长基准时成为()灵敏度法。

考题 绝对灵敏度测长法,测得的缺陷指示长度与测长灵敏度有关,测长灵敏度高缺陷长度()。A、大B、不变C、小D、任意

考题 用技术文件规定的探伤灵敏度为测长基准时称为()灵敏度法。

考题 在工具显微镜上测量圆柱孔径用以下几种方法()A、用影像法测量B、光学灵敏杠杆法C、用万能工具显微镜测量D、用万能测长仪测量

考题 判断题对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。A 对B 错

考题 单选题绝对灵敏度测长法,测得的缺陷指示长度与测长灵敏度有关,测长灵敏度高缺陷长度()。A 大B 不变C 小D 任意

考题 判断题绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时,测长灵敏度高,测得的缺陷长度大。A 对B 错

考题 单选题横波探伤时,对大缺陷测长的方法一般常用()。A 最大波高衰减法B 端点最大波高衰减法C 波高限度法D 上述都对

考题 填空题用缺陷本身的最高波高为测长基准时成为()灵敏度法。

考题 填空题相对灵敏度测长法是以缺陷的最高回波为相对基准,沿缺陷长度方向移动探头,降低一定分贝值来测定缺陷长度。其中较为常用的测长方法称为()法。

考题 单选题测长时一定注意定量灵敏度的准确性,下列说法正确的是()。A  确定检测灵敏度以及对缺陷回波幅度进行准确的定量B  一次波和一次反射波检测时,缺陷回波的幅度或其指示长度的测定,应以呈现最高波幅或测得最大指示长度的以此为准C  在使用两种不同K值分别对同一焊缝检测时,应以K值小的为准测定缺陷长度D  当缺陷回波高度降到测长线时探头移动的距离,即为缺陷的指示长度

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