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单选题
X射线和g射线具有()作用,使胶片感光来探测零件内部的缺陷。
A

光化

B

光学

C

化学

D

辐射


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 “散射线含有率”的正确定义是A.作用在胶片上的X线量B.散射线在作用于胶片上的全部射线量中的比率C.作用在胶片上的散射线量D.原发射线与散射线之比E.原发射线中含有散射线的量

考题 下列说法正确的是()。A、射线检测只能发现平行于射线束方向上具有足够厚度的裂纹B、X射线胶片上相对应的缺陷部位接受的X射线离子较少C、当紧紧闭合的裂纹与射线束所呈的夹角超过5º时也能发现它D、缺陷部位对射线的吸收能力大大高于正常部位的

考题 射线检测RT是利用X射线、γ射线和中子射线穿透物体后的()程度不同,根据胶片感光程度的不同来检测物体()缺陷。A、增强;内部B、增强;表面C、衰减;内部D、衰减;表面

考题 曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定()A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件

考题 X射线透过有缺陷处的强度比无缺陷处的强度大,因而,射线作用在胶片上使胶片感光的程度()。A、较弱B、较强C、很弱D、不确定

考题 X射线透过有缺陷处的强度比无缺陷处的强度大,因而,射线作用在胶片上使胶片感光的程度()。  A、较弱B、较强C、很弱

考题 在X射线照相时,在胶片暗盒的背面安置一块铅板,这块铅板与胶片应尽量紧贴,其目的是()A、作为增感屏B、防止胶片受来自背面散射线的影响C、a和b都是D、支撑零件不使胶片弯曲

考题 采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A、直接用X射线胶片曝光B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

考题 铅箔增感屏的增感机理是()。A、与荧光增感屏一样B、吸收波长较短的射线,通过波长较长的射线使胶片增感C、吸收波长较长的射线,通过波长较短的射线使胶片增感D、射线照射时激发出电子,使胶片增感

考题 在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱X射线,标识谱X射线不起什么作用。

考题 高能X射线比低能X射线更易于使胶片感光。

考题 铅箔增感屏之所以有增感作用,是因为X射线与γ射线能从铅中激发出()来,从而使胶片感光,达到增感的目的。

考题 采用中子照相法时,其曝光需要先经过转换屏转换,然后()。A、直接在荧光屏显示缺陷图象B、利用荧光增感屏+X射线胶片曝光C、再使用X射线胶片曝光D、以上都不对

考题 X射线管上阳极罩的作用是()。A、使靶面温度升高B、减少散射在壳上的二次电子C、产生散乱射线D、使X射线胶片感光

考题 下列关于X射线探伤的作用正确的是()。A、可探测内部缺陷B、只能探测表面缺陷C、只能探测金属工件D、可探测金属.非金属工件

考题 在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

考题 判断题在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱X射线,标识谱X射线不起什么作用。A 对B 错

考题 填空题在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

考题 单选题下列关于X射线探伤的作用正确的是()。A 可探测内部缺陷B 只能探测表面缺陷C 只能探测金属工件D 可探测金属.非金属工件

考题 单选题射线检测RT是利用X射线、γ射线和中子射线穿透物体后的()程度不同,根据胶片感光程度的不同来检测物体()缺陷。A 增强;内部B 增强;表面C 衰减;内部D 衰减;表面

考题 单选题射线探伤是探测零件()缺陷的无损探伤方法。A 表面B 近表面C 内部D 表面和内部

考题 单选题射线探伤对零件内部缺陷进行定性、定量和定位分析的依据是().A 缺陷数据B 缺陷影像C 缺陷波形D 射线衰减程度

考题 单选题铅箔增感屏的增感机理是()。A 与荧光增感屏一样B 吸收波长较短的射线,通过波长较长的射线使胶片增感C 吸收波长较长的射线,通过波长较短的射线使胶片增感D 射线照射时激发出电子,使胶片增感

考题 单选题射线探伤是利用射线穿透物体和穿透后的()不同,使胶片感光来探测物体内部缺陷.A 能量减弱的程度B 衰减程度C 吸收能量的程度D 具有的能量

考题 单选题“散射线含有率”的正确定义是(  )。A 作用在胶片上的X线量B 散射线在作用于胶片上的全部射线量中的比率C 作用在胶片上的散射线量D 原发射线与散射线之比E 原发射线中含有散射线的量

考题 单选题采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A 直接用X射线胶片曝光B 利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C 利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D 利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

考题 单选题在X射线照相时,在胶片暗盒的背面安置一块铅板,这块铅板与胶片应尽量紧贴,其目的是()A 作为增感屏B 防止胶片受来自背面散射线的影响C a和b都是D 支撑零件不使胶片弯曲