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判断题
当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。
A

对

B

错

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考题 DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）
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考题 当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。
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考题 当对铝合金材料进行无损探伤时，应优先选用（）.A、磁粉检测法。B、涡流检测法。C、X射线检测法。D、渗透检测法。
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考题 隔离开关绝缘子探伤检测时，采用（）进行探伤。A、X射线B、超声波C、r射线D、荧光光谱
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考题 当检测厚度小T50mm的焊缝时，应采用（）。A、X射线探伤B、γ射线探伤C、超声波探伤D、磁粉探伤
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考题 射线探伤的射线源有X射线和γ射线。
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考题 被透视焊件的厚度（）mm时，应采用X射线探伤；（）mm时，应采用γ射线探伤。
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考题 当超声波不能对缺陷做出判断时，应采用（）方法检测焊缝内部质量。A、渗透探伤B、磁粉探伤C、射线探伤D、涡流探伤
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考题 采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的（）。
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考题 采用г射线源进行射线照相时，若要减少射线强度可以：（）。A、减少焦距B、增大焦距C、增加暴光时间D、采用快速X光胶片
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考题 当采用焦距F大于曲率半径R的偏心内透照法检验环焊缝时，搭接标记应放在（）。A、射线源侧B、胶片侧C、两侧均可D、以上都对
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考题 无损检测方法中，检查焊缝内部缺陷应采用（）。A、磁粉探伤B、射线探伤C、萤光探伤D、着色探伤
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考题 当检测厚度小于50mm的焊缝时，应采用（）。A、X射线探伤B、γ射线探伤C、超声波探伤D、磁粉探伤
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考题 当采用渗透探伤方法时，宜优先选用具有较高检测灵敏度的荧光渗透检测。
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考题 当对铝含金材料进行无损探伤时应优先选用哪种探测方法（）。A、X射线检测法B、涡流检测法C、图形尺寸与实际尺寸的比D、渗透检测法
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考题 当对铝合金材料进行无损探伤时，应优先选用哪种检测方法？（）A、磁粉检测法。B、涡流检测法。C、X射线检测法。D、渗透检测法。
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考题 单选题当采用焦距F大于曲率半径T的偏心内透照法检验环焊缝时，搭接标记应放在（）。A 射线源测B 胶片侧C 两侧均可D 以上都对
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考题 单选题对于焊缝表面缺陷的检测，应优先采用（）。A X射线探伤B 超声波探伤C 磁粉探伤D 渗透探伤
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考题 单选题对于焊缝表面缺陷的检测，应优先采用（）。A 渗透探伤B 磁粉探伤C 超声波探伤D X射线探伤
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考题 判断题DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）A 对B 错
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考题 填空题采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的（）。
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考题 单选题当超声波不能对缺陷做出判断时，应采用（）方法检测焊缝内部质量。A 渗透探伤B 磁粉探伤C 射线探伤D 涡流探伤
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