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填空题
37°探头的声束宽度大于或等于()。

参考答案

参考解析
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考题 超声的横向分辨力与下述哪项因素最相关A.超声波长(λ)或频率(f)B.扫描声束C.探头厚度方向上的声束宽度及其聚焦性能D.超声脉冲宽度E.声场的远近及其能量分布

考题 带宽(频宽)的含义是指A、线阵或凸阵探头超声扫描的宽度B、凸阵探头发出超声束的宽度C、线阵探头发出超声束的宽度D、探头扫描的声束宽度E、探头发出超声的频率范围

考题 超声的侧向分辨力与下述哪项因素最有关A、超声波长(λ)或频率(f)B、扫描声束的宽度或聚焦性能C、探头宽度方向上的声束宽度及其聚焦性能D、超声发射脉冲宽度E、声场的远近及其能量分布

考题 超声的横向分辨力与下述哪项因素最有关A、超声波长(λ)或频率(F)B、扫描声束C、与探头厚度方向上的声束宽度及其聚焦性能D、超声脉冲宽度E、声场的远近及其能量分布

考题 由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。()此题为判断题(对,错)。

考题 下列何种因素与超声图像分辨力无关A、发射超声的频率高低B、发射超声的重复频率C、发射超声的脉冲宽度D、探头的宽度与声束的宽度E、仪器对声束的聚焦性能

考题 带宽(频宽)的含义是指A.探头扫描的声束宽度 B.线阵探头发出超声束的宽度 C.线阵或凸阵探头超声扫描的宽度 D.探头发出超声的频率范围 E.凸阵探头发出超声束的宽度

考题 在超声探头远场区,()。A、声束边缘声压最大B、声束轴线上声压最大C、声束边缘和中心轴线声压一样D、声压与声束宽度成正比

考题 已经某钢轨探伤仪70°探头声束宽度N为65mm,加大或减小增益能改变其声束宽度。

考题 在超声探头远场区中()A、声束边缘声压较大B、声束中心声压较大C、声束边缘与中心强度一样D、声压与声束宽度成正比

考题 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸

考题 在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、大于实际尺寸D、等于晶片尺寸

考题 超声的横向分辨力与下述哪项因素最有关()。A、超声波长或频率B、扫描声束C、超声脉冲宽度D、探头厚度方向上的声束宽度及其聚焦性能E、声场的远近及其能量分布

考题 37°探头的声束宽度大于或等于()。

考题 由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。

考题 70°探头的声束宽度N≥()。

考题 用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 判断题由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。A 对B 错

考题 单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 稍大于实际尺寸D 等于晶片尺寸

考题 填空题用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 填空题70°探头的声束宽度N≥()。

考题 单选题在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 大于实际尺寸D 等于晶片尺寸

考题 判断题已经某钢轨探伤仪70°探头声束宽度N为65mm,加大或减小增益能改变其声束宽度。A 对B 错

考题 单选题超声的横向分辨力与下述哪项因素最有关A 超声波长(λ)或频率(f)B 扫描声束C 与探头厚度方向上的声束宽度及其聚焦性能D 超声脉冲宽度E 声场的远近及其能量分布。

考题 单选题在超声探头远场区,()。A 声束边缘声压最大B 声束轴线上声压最大C 声束边缘和中心轴线声压一样D 声压与声束宽度成正比

考题 单选题在超声探头远场区中()A 声束边缘声压较大B 声束中心声压较大C 声束边缘与中心强度一样D 声压与声束宽度成正比

考题 单选题在超声波探头远场区中()A 声束边缘声压比较大B 声束边缘与中心声压一样大C 声束中心声压最大D 声压与声束宽度成正比