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填空题
ZPW-2000A衰耗器中GJ(Z)测试插孔主要测试主轨道继电器GJ()。

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考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒的“GJ(B)”测试孔,测出的值为()电压。 A.主机主轨继电器B.并机主轨继电器C.主机小轨继电器D.并机小轨继电器

考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路衰耗器GJ测试孔用来测试主轨发送电压。() 此题为判断题(对,错)。

考题 ZPW-2000A型在衰耗盒的“GJ()”测试孔,测出的值为()。 A、主机主轨继电器;电压B、并机主轨继电器;电压C、主机小轨继电器;电压D、并机小轨继电器;电压

考题 ZPW-2000A衰耗器中XGJ(Z)测试插孔主要测试()执行条件XGJ主机电压。

考题 ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试并机小轨道继电器电压,其测试位置为()。A、衰耗盒XGJ(Z)测试孔B、衰耗盒XGJ(B)测试孔C、衰耗盒XGJ测试孔D、衰耗盒GJ测试孔

考题 ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试接收盒输入电压,其测试位置为()。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔

考题 ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试并机轨道继电器电压,其测试位置为()。A、衰耗盒轨出1测试孔B、衰耗盒轨出2测试孔C、衰耗盒GJ(Z)测试孔D、衰耗盒GJ(B)测试孔

考题 ZPW-2000A无绝缘移频轨道电路,衰耗器电气特性测试GJ(Z)、GJ(B)、GJ电压大于()V。A、20B、22C、24D、26

考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路主、并接收器GJ(Z/B)电压,备(+1)发送器功出电压()测试。A、每月B、每季C、每半年D、每年

考题 ZPW-2000A轨道电路调整状态时,小轨道接收条件GJ(主)、GJ(并)电压≥()V。

考题 衰耗器根据轨道继电器的状态,驱动轨道状态指示灯,其GJ亮绿灯表示()。A、轨道空闲B、轨道占用C、断电D、故障

考题 ZPW-2000A型无绝缘移频自动闭塞GJ测试孔用来测试主轨发送电压。

考题 ZPW-2000A型轨道衰耗盘上各测试插孔的测量值应符合哪些标准?

考题 多特征脉冲轨道电路衰耗器正面有衰耗入、轨入、轨出、GJ(Z)、GJ(B)、GJ六组测试塞孔和一个()指示灯。

考题 ZPW-2000A衰耗器中GJ(Z)测试插孔主要测试主轨道继电器GJ()。

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试小轨道输出电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨出1测试孔B 衰耗盒轨出2测试孔C 衰耗盒GJ(Z)测试孔D 衰耗盒GJ(B)测试孔

考题 单选题ZPW-2000A型无绝缘轨道电路主、并接收器GJ(Z/B)电压,备(+1)发送器功出电压()测试。A 每月B 每季C 每半年D 每年

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试主轨道输出电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨出1测试孔B 衰耗盒轨出2测试孔C 衰耗盒GJ(Z)测试孔D 衰耗盒GJ(B)测试孔

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试接收盒输入电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨入测试孔B 衰耗盒轨出1测试孔C 衰耗盒轨出2测试孔D 衰耗盒GJ测试孔

考题 填空题多特征脉冲轨道电路衰耗器正面有衰耗入、轨入、轨出、GJ(Z)、GJ(B)、GJ六组测试塞孔和一个()指示灯。

考题 单选题衰耗器根据轨道继电器的状态,驱动轨道状态指示灯,其GJ亮绿灯表示()。A 轨道空闲B 轨道占用C 断电D 故障

考题 单选题ZPW-2000A无绝缘移频轨道电路,衰耗器电气特性测试GJ(Z)、GJ(B)、GJ电压大于()V。A 20B 22C 24D 26

考题 单选题ZPW-2000A型在衰耗盒的“GJ(B)”测试孔,测出的值为()。A 主机主轨继电器电压B 并机主轨继电器电压C 主机小轨继电器电压D 并机小轨继电器电压

考题 单选题ZPW-2000A型无绝缘轨道电路()的功能是对接收的主轨道及小轨道移频信号进行调整(含正、反向),输出至接收器;对发送器、接收器电源电压,发送器功出电压和轨道继电器(含GJ、XGJ)电压提供测试孔;给发送器、接收器的故障报警、轨道状态及正、反向运行提供指示灯。A 衰耗器B 接收器C 发送器D 防雷模拟网络盘

考题 填空题ZPW-2000A衰耗器中XGJ(Z)测试插孔主要测试()执行条件XGJ主机电压。

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试主机轨道继电器电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨出1测试孔B 衰耗盒轨出2测试孔C 衰耗盒GJ(Z)测试孔D 衰耗盒GJ(B)测试孔

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试主机小轨道继电器电压,其测试位置为()。A 衰耗盒XGJ(Z)测试孔B 衰耗盒XGJ(B)测试孔C 衰耗盒XGJ测试孔D 衰耗盒GJ测试孔