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单选题
厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）
A
两个缺陷当量相同
B
衰减大的锻件中缺陷当量小
C
衰减小的锻件中缺陷当量小
D
不一定
参考答案
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解析：
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考题
在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如果400mm深底波调整φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高多少dB探伤？（晶片直径D=14mm）（）A、36.5dBB、43.5dBC、50dBD、28.5dB
考题
在对铸钢件UT检测时针对两块试块进行质量对比，A试块的衰减系数大于B试块，在探测时都用底波标准法调整灵敏度，结果在工件中同声程发现同样波高的缺陷，则实际缺陷哪个大（）A、A试块的大B、B试块的大C、一样大D、无法比较
考题
厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定
考题
超声波检测某饼形锻件，检测灵敏度为φ2，已知底波比同距离处φ2回波高44dB， 衰减器预衰减54dB，当将底波B1调至80％基准高时，再用〈衰减器〉（），这时Φ2灵敏 度就调好了。A、增益54dBB、增益44 dBC、衰减54dBD、衰减44 dB
考题
在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高（）db探伤？（晶片直径D=14mm）A、36.5dbB、43.5dbC、50dbD、28.5db
考题
用2.5P20Z探头探伤Φ600的实心圆柱体锻体，CL=5900m/s.α=0.005dB/mm，利用锻体底波调节600/Φ2灵敏度，•底波达基准高时衰减读数为50dB，探伤中在400mm处发现一缺陷，缺陷波达基准高时衰减器读数为30dB，•求此缺陷的当量平底孔直径为（）。A、3.4mmB、4.8mmC、5.6mmD、6.9mm
考题
单选题在对铸钢件UT检测时针对两块试块进行质量对比，A试块的衰减系数大于B试块，在探测时都用底波标准法调整灵敏度，结果在工件中同声程发现同样波高的缺陷，则实际缺陷哪个大（）A
A试块的大B
B试块的大C
一样大D
无法比较
考题
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A
两个缺陷当量相同B
材质衰减大的锻件中缺陷当量小C
材质衰减小的锻件中缺陷当量小D
以上都不对
考题
单选题超声波检测某饼形锻件，检测灵敏度为φ2，已知底波比同距离处φ2回波高44dB， 衰减器预衰减54dB，当将底波B1调至80％基准高时，再用〈衰减器〉（），这时Φ2灵敏 度就调好了。A
增益54dBB
增益44 dBC
衰减54dBD
衰减44 dB
考题
单选题在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高（）db探伤？（晶片直径D=14mm）A
36.5dbB
43.5dbC
50dbD
28.5db
考题
单选题一台超声波探伤仪已经用铝试块校正距离180mm、2mm直径平底孔灵敏度，波高50%的信号，当它用来检测钢工件时，发现距离探测面100mm处有高度为50的缺陷信号，此缺陷的横截面积可能（）A
与2mm平底孔的面积相同B
较2mm平底孔面积要大C
略小于2mm平底孔的面积D
无法确定缺陷大小
考题
判断题利用工件底波校准检测灵敏度，由于是同材质，所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。A
对B
错
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