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判断题
测量小应变时,应选用灵敏度高的金属丝应变片,测量大应变时,应选用灵敏度低的半导体应变片。
A
对
B
错
参考答案
参考解析
解析:
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考题
结构受弯曲作用情况,采用测量应变片互相补偿的全桥测试方案,该方案的布片和测量桥路的特点是()。
A、桥路测量灵敏度提高一倍;使用应变片较少B、桥路测量灵敏度提高了4倍;使用应变片较多C、桥路测量灵敏度提高一倍;使用应变片较多D、桥路测量灵敏度提高了4倍;使用应变片较少
考题
关于电阻应变片,下列说法中正确的是()A、应变片的轴向应变小于径向应变B、金属电阻应变片以压阻效应为主C、半导体应变片以应变效应为主D、金属应变片的灵敏度主要取决于受力后材料几何尺寸的变化
考题
单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是()A
金属应变片主要利用压阻效应B
金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C
半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D
半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高,但非线性误差大。
考题
单选题结构受弯曲作用情况,采用测量应变片互相补偿的全桥测试方案,该方案的布片和测量桥路的特点是()。A
桥路测量灵敏度提高一倍;使用应变片较少B
桥路测量灵敏度提高了4倍;使用应变片较多C
桥路测量灵敏度提高一倍;使用应变片较多D
桥路测量灵敏度提高了4倍;使用应变片较少
考题
单选题半导体应变片的灵敏度和电阻应变片的灵敏度相比()A
半导体应变片的灵敏度高B
二者相等C
电阻应变片的灵敏试验高D
不能确定
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