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二次特征辐射（X射线荧光）

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考题 X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
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考题 在X射线管窗口处加用滤光板可以达到什么目的?() A、增强二次辐射的X射线B、滤掉软辐射线，得到更均匀的X射线束C、滤掉波长短的X射线束，提供软的辐射线D、使X射线强度均匀化
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考题 X射线荧光法中的荧光指（）A、一次射线B、二次射线C、三次射线D、四次射线
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考题 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
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考题 下列哪种属于X射线（）A、特征X射线B、韧致辐射C、轨道电子俘获D、内转换
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考题 光致电离辐射类型不包括（）A、特征X射线B、轫致辐射C、中子束D、r射线E、湮没量子
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考题 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 连续谱X射线产生于（）过程A、轫致辐射B、跃迁辐射C、荧光辐射D、以上都是
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考题 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
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考题 X射线管产生的一次X射线束是（），二次X射线束是（）。A、连续谱+特征谱B、纯特征谱C、连续谱D、散射线
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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子
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考题 在X射线管中，高速运动的电子与靶相撞，能够产生连续X射线，在特殊情况下也能产生（）。A、特征X射线B、示性X射线C、荧光辐射D、以上都对
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考题 名词解释题X射线特征谱
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考题 名词解释题特征X射线
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考题 问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？
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考题 问答题特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同？某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线？
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考题 判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A 对B 错
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考题 单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法
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考题 单选题连续谱X射线产生于（）过程A 轫致辐射B 跃迁辐射C 荧光辐射D 以上都是
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考题 单选题X射线荧光法中的荧光指（）A 一次射线B 二次射线C 三次射线D 四次射线
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考题 问答题分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
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考题 判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错
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