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单选题
在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为()。
A
光学显微镜
B
扫描隧道显微镜
C
原子力显微镜
参考答案
参考解析
解析:
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考题
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考题
单选题对再现性说法正确的是:()。A
由不同操作人员,采用相同的测量仪器,测量不同零件的同一特性时测量平均值的变差B
由不同操作人员,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差C
由不同操作人员,采用不同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差D
由相同操作人员,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差
考题
判断题再现性:是指不同的操作人员采用不同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差,又叫系统间的误差。A
对B
错
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