考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器件温度不稳定，有跳变，可能出现问题的部件有（）A、温控板B、模拟信号调理板C、探头D、温度变送器E、校零板
考题
THDS-A轴温探测系统中器件温度信号来自（）A、热靶大门组件B、扫描器下上盖C、扫描器下箱体D、光子探头内部
考题
THDS-A红外轴温探测系统温控板是控制（）温度的电路板。A、热电阻B、铂电阻C、碲镉汞光子器件D、热靶
考题
下列温度中在THDS-A轴温探测系统中测温原理和其他几项不同的是（）A、靶温B、板温C、环境温度D、轴温
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板对下列（）测量A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度E、环境温度
考题
THDS-A轴温探测系统中位于上盖大门上的温度信号是（）A、器件温度B、热靶温度C、挡板温度D、调制盘温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
THDS-A红外轴温探测系统IPC工作模块中，实时数据显示区域，下列（）是外探信息。A、大门状态B、挡板状态C、器件温度D、制冷电流E、盘温
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件有（）A、探头B、模拟信号调理板C、数字IO卡D、温控板E、测温板
考题
THDS-A轴温探测系统中来自于室内的温度信号是（）A、机柜温度B、热靶温度C、挡板温度D、调制盘温度
考题
有关THDS-A轴温探测系统是通过控制光子探头内制冷器件的（）来达到控制制冷器件温度的目的。A、电阻B、电容C、电压D、电流
考题
THDS-A轴温探测系统中用于校零的温度信号是（）A、环境温度B、器件温度C、挡板温度D、调制盘温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度
考题
THDS-A轴温探测系统中可以保持长时间稳定不变的温度信号是（）A、环境温度B、热靶温度C、器件温度D、调制盘温度
考题
单选题THDS-A轴温探测系统中可以通过加热升高的温度信号是（）A
环境温度B
热靶温度C
器件温度D
调制盘温度
考题
单选题THDS-A轴温探测系统中用于校零的温度信号是（）A
环境温度B
器件温度C
挡板温度D
调制盘温度
考题
单选题THDS-A轴温探测系统中来自于光子探头内部的温度信号是（）A
环境温度B
热靶温度C
机柜温度D
调制盘温度
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A
调制盘温度B
器件温度C
车轴温度D
热靶温度
考题
单选题THDS-A轴温探测系统中来自于室内的温度信号是（）A
机柜温度B
热靶温度C
挡板温度D
调制盘温度
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统测温板对下列（）测量A调制盘温度B器件温度C车轴温度D热靶温度E环境温度
考题
单选题有关THDS-A轴温探测系统是通过控制光子探头内制冷器件的（）来达到控制制冷器件温度的目的。A
电阻B
电容C
电压D
电流
考题
单选题下列温度中在THDS-A轴温探测系统中测温原理和其他几项不同的是（）A
靶温B
板温C
环境温度D
轴温
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统IPC工作模块中，实时数据显示区域，下列（）是内探信息。A大门状态B挡板状态C器件温度D制冷电流E板温
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器件温度不稳定，有跳变，可能出现问题的部件有（）A温控板B模拟信号调理板C探头D温度变送器E校零板
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
考题
单选题THDS-A轴温探测系统中可以保持长时间稳定不变的温度信号是（）A
环境温度B
热靶温度C
器件温度D
调制盘温度