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在使用内测千分尺测量时，测量位置必须安放正确。测量孔时，用测力装置转动微分筒，使量爪在（）与工件相接触。

  • A、径向的最小位置和在轴向的最小距离处
  • B、径向的最大位置和在轴向的最小距离处
  • C、径向的最大位置和在轴向的最大距离处
  • D、径向的最小位置和在轴向的最大距离处

参考答案

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考题 内径千分尺在测量时,要使用测力机构。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 千分尺测力装置的作用是使测量面与被测件接触时保持一定的测力。
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考题 无法用调试的方法消除千分尺轴向窜动时，必须修磨千分尺的（）A、测杆B、测量C、测力D、螺杆
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考题 外径千分尺在测量时，不需要测力装置，只要将微分筒拧紧就行。
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考题 测量孔深时，使用深度千分尺应首先检查（）。A、相互作用B、测力装置C、基座平面D、零位正确性
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考题 在使用外径千分尺测量前，必须校对其零位，也即通常所称的对零位。对于测量范围（）时，应在两测量面间安放尺寸为其测量下限的对量棒后进行测量。A、0~25毫米B、25~50毫米C、25~100毫米D、大于25毫米
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考题 在使用杠杆千分尺测量时，杠杆干分尺应以测微螺杆的轴线方向压向工件测量面，使测砧处于不受力状态，这样才能确保杠杆的测力准确性。
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考题 用外径千分尺测量时，（）。A、应直接转动微分筒进行测量并读数B、应转动测力装置进行测量并读数C、将微分筒转至要求的尺寸公差进行测量
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考题 检查深孔的圆度、圆柱度时，需用（）进行测量。A、游标卡尺B、千分尺C、内径表D、内测千分尺
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考题 关于螺纹千分尺的使用正确的是（）。A、工件在低速旋转时，可用千分尺测量B、必须在车床停稳后，才能用千分尺测量C、测量前不必校对千分尺D、使用千分尺测量工件，可以不用棘轮
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考题 在带电设备附近测量绝缘电阻时，（）位置，必须选择适当，保持安全距离A、测量人员B、摇表安放C、测量人员和摇表安放
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考题 外径千分尺在使用时操作正确的是（）A、猛力转动测力装置B、旋转微分筒使测量表面与工件接触C、退尺时要旋转测力装置D、不允许测量带有毛刺的边缘表面
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考题 平行孔中心距的测量方法主要有（）。A、直接测量孔径B、间接测量孔径C、用数显高程规测量孔中心距D、用千分尺测量孔中心距E、用游标卡尺测量孔中心距F、用量棒测量两孔中心距
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考题 内径千分尺测量内孔时，测量位置不能少于（）个截面（这些截面在内孔的轴向应基本均匀分布）。A、2B、3C、4
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考题 用数显高程规测量内孔时，必须寻找测量位置，使之处于内孔的最大直径方向。
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考题 千分尺两测量面将与工件接触时，要使用（），不要直接转动微分筒。A、螺杆B、千分尺C、测力装置D、固定套管
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考题 外径千分尺的（）可使测量时保持恒定的测量力。A、测力装置B、测徽装置C、锁紧装置D、隔热装置
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考题 用游标卡尺测量工件时，测力过大或过小均会增大测量误差。
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考题 外径千分尺在准备测量前，擦干净测量面、使用测力装置对零位时不归零应（）。A、可用盒中的调零扳手进行调整B、不用调整直接测量C、送计量中心进行调整D、以上都不正确
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考题 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
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考题 由于孔壁是凹圆形，用千分尺测量时不可能使测头接触孔壁，所以用千分尺测量孔距的方法只能用于精度要求低的测量。
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考题 单选题无法用调试的方法消除千分尺轴向窜动时，必须修磨千分尺的（）A 测杆B 测量C 测力D 螺杆
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考题 单选题测量孔深时，使用深度千分尺应首先检查（）。A 相互作用B 测力装置C 基座平面D 零位正确性
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考题 单选题在带电设备附近测量绝缘电阻时，（）位置，必须选择适当，保持安全距离A 测量人员B 摇表安放C 测量人员和摇表安放
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考题 单选题外径千分尺在准备测量前，擦干净测量面、使用测力装置对零位时不归零应（）。A 可用盒中的调零扳手进行调整B 不用调整直接测量C 送计量中心进行调整D 以上都不正确
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考题 判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A 对B 错
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考题 单选题在使用内测千分尺测量时，测量位置必须安放正确。测量孔时，用测力装置转动微分筒，使量爪在（）与工件相接触。A 径向的最小位置和在轴向的最小距离处B 径向的最大位置和在轴向的最小距离处C 径向的最大位置和在轴向的最大距离处D 径向的最小位置和在轴向的最大距离处
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