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千分尺平行度超差后，可根据（）的磨损痕迹找出超差的原因

  • A、测量面
  • B、测杆
  • C、螺杆
  • D、微分筒

参考答案

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考题 使用外径千分尺时,当两测量面接触工件后,待()空转,发出“轧轧"声时,方可读出尺寸。 A、测力装置棘轮B、定位环C、微分筒D、测砧
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考题 使用外径千分尺前,应先将校对量杆置于()和测微螺杆之间。 A、测力装置B、定位环C、测砧D、微分筒
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考题 使用千分尺测量,当微分筒转动一格时,测微螺杆轴向移动( )。 A、0.05mmB、0.04mmC、0.02mmD、0.01mm
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考题 车孔时,如果车孔刀已经磨损,刀杆振动,车出的孔()。 A、同轴度超差B、表面粗糙度大C、圆度超差D、精度超差
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考题 千分尺的微分筒转一圈，测微螺杆轴向移动1mm。
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考题 千分尺压线和离线现象，只能通过改变微分筒与测微螺杆在（）方向上的相对位置来调整A、垂直B、平行C、相同D、轴线
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考题 若千分尺的测量螺杆的螺距为0.5mm，则微分筒圆周上的刻度为（）。
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考题 外径千分尺中测微螺杆的螺距为0.5mm；微分筒每转一周，测微螺杆沿轴线移动0.5mm。微分筒的锥面，由均匀分布的刻线将其分成50格，所以当微分筒每转一小格时，测微螺杆沿轴线移动0.1mm。
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考题 常用千分尺的测微螺杆的螺距为0.5mm，因此，当微分筒旋转一周时，测微螺杆移动0.5mm，微分筒旋转一个分度时（即时/50转），测微螺杆移动0.01mm，故常用千分尺的读数值为（）A、0.5mmB、0.1mmC、0.01mmD、0.05mm
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考题 使用千分尺测量工件时下列说法正确的是（）。A、使用中要检查微分筒的零线，使其与固定套筒的基准线对齐B、测量时，转动微分筒，使微分筒与被测量面贴合完好、紧固后，方可读数C、不能在工件转动时进行测量D、不能用千分尺测量毛坯件及未加工面
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考题 千分尺测微螺杆上罗纹的螺距为0.5mm，当微分筒转一周时，螺杆移动（）mm；微分筒转1/50周（），螺杆移动（）mm。
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考题 测量前需要将千分尺的（）擦拭干净并检查零位是否正确。A、固定套装B、测量面C、微分筒D、测微螺杆
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考题 测量前需要将千分尺（）擦试干净后检查零位是否正确A、固定套筒B、测量面C、微分筒D、测微螺杆
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考题 测量时，外径千分尺的（）和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪
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考题 造成螺纹螺距累计误差超差的原因是（）。A、机床导轨对工件轴线平行度超差或导轨的直线度超差B、机床导轨对工件轴线直线度超差或导轨的平行度超差C、机床尾座对工件轴线平行度超差或导轨的直线度超差D、工件跳动
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考题 千分尺的微分筒转动一格，测微螺杆移动（）。A、1㎜B、0.5㎜C、0.01㎜D、2㎜
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考题 （）不是铣角度面形位公差超差的原因。A、平面度超差B、垂直度超差C、平行度超差D、尺寸公差超差
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考题 铣床工作台面平面度超差，对加工的影响为（）A、产生振动B、刀具磨损加快C、工件平面度、平行度超差D、工件表面粗糙度超差
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考题 使用外径千分尺时，不得强行转动微分筒，要尽量使用（）。A、止动环B、测力装置C、测砧D、测微螺杆
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考题 使用千分尺测量，当微分筒转动一格时，测微螺杆轴向移动0.01mm。
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考题 千分尺两测量面将与工件接触时，要使用（），不要直接转动微分筒。A、螺杆B、千分尺C、测力装置D、固定套管
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考题 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
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考题 卧式镗床主轴走刀镗孔的圆度，圆柱度超差的原因是（）。A、主轴径向圆跳动、轴向窜动超差B、主轴镗杆、轴套磨损C、主轴箱尾导轨磨损D、主轴轴承磨损E、镗杆后支承磨损
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考题 填空题千分尺测微螺杆上罗纹的螺距为0.5mm，当微分筒转一周时，螺杆移动（）mm；微分筒转1/50周（），螺杆移动（）mm。
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考题 单选题千分尺平行度超差后，可根据（）的磨损痕迹找出超差的原因A 测量面B 测杆C 螺杆D 微分筒
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考题 判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A 对B 错
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考题 单选题千分尺压线和离线现象，只能通过改变微分筒与测微螺杆在（）方向上的相对位置来调整A 垂直B 平行C 相同D 轴线
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