考题
介损损耗值与温度的关系是()。
A.介质损耗随温度的上升而减小B.介质损耗随温度的上升而增加C.介质损耗随温度的下降而增加D.介质损耗与温度无关
考题
光纤产生损耗的原因很多，其损耗类型有()。A.固有损耗B.色散损耗C.外部损耗D.应用损耗
考题
偶极子在人体内迅速旋转摩擦而产生的能量损耗称为A、电阻B、电抗C、欧姆损耗D、介质损耗E、温热效应
考题
下列哪项不是电器的基本热源?( )A、能量损耗B、机械摩擦产生的热能C、铁损D、电介质损耗
考题
当电器中的载流系统通过交变电流时,电器的热源有()。
A、载流导体中损耗的能量B、绝缘体内产生的介质损耗C、磁滞损耗D、涡流损耗
考题
介质损耗测量时，若被试物绝缘内部产生热量越多，则说明介质损失也越大。()
考题
电介质的荷电质点在电场作用下,对应于电场方向产生位移的现象称为()。
A.电介质极化B.电介质电导C.电介质损耗D.电介质击穿
考题
偶极子在人体内高速旋转摩擦而产生的能量损耗称为A．电阻B．欧姆损耗C．温热效应D．电抗E．介质损耗
考题
介损损耗值与温度的关系是（）。A、介质损耗随温度的上升而减小B、介质损耗随温度的上升而增加C、介质损耗随温度的下降而增加D、介质损耗与温度无关
考题
光纤产生损耗的原因有（）A、吸收损耗B、耦合损耗C、散射损耗D、弯曲损耗
考题
偶极子在人体内高速度旋转摩擦而产生能量损耗称为介质损耗
考题
简述介质损耗的几种形式及造成这几种损耗的原因。
考题
M型介质试验器的标准电容支路的作用为产生1V的标准电压及测量介质损耗功率P。
考题
光纤产生损耗的原因主要有吸收损耗、散射损耗、（）、连接损耗。A、燃烧损耗B、吸收损耗C、老化损耗D、裂隙损耗
考题
下列是造成光纤产生损耗的原因类型有（）A、内部损耗B、应用损耗C、外部损耗D、固有损耗
考题
光纤损耗特性产生的原因有很多，主要有以下那几种（）。A、吸收损耗B、散射损耗C、插入损耗D、辐射损耗
考题
实际的电容，由于介质漏电及其它原因产生的能量消耗叫电容器的损耗。
考题
"电介质偶极子内的正负电荷随着电流正负半周的高速变化，也不断反复取向而产生180°的旋转，偶极子内束缚电荷位置移动"产生（）A、涡电流B、位移电流C、介质损耗D、欧姆损耗E、非热效应
考题
介质损耗测量时，若被试物绝缘内部产生热量越多，则说明介质损失越大。
考题
测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么？
考题
单选题光纤产生损耗的原因主要有（）、散射损耗、弯曲损耗、连接损耗。A
吸收损耗B
燃烧损耗C
老化损耗D
裂隙损耗
考题
问答题简述介质损耗的形式及造成这几种损耗的原因
考题
单选题下列哪项不是电器的基本热源？（）A
能量损耗B
机械摩擦产生的热能C
铁损D
电介质损耗
考题
判断题偶极子在人体内高速度旋转摩擦而产生能量损耗称为介质损耗A
对B
错