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一轴晶垂直光轴干涉图怎样测量光性?


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考题 二轴晶光率体的光轴面与圆切面为:().A、平行B、斜交C、垂直

考题 在二轴晶垂直Bxa切面45°位干涉图上,两光轴之间的区间总是钝角区。外侧总是锐角区

考题 光线垂直光轴入射光性一轴晶,双折射率为0。光线平行光轴入射,双折射率最大

考题 二轴晶垂直Bxa切片干涉图一般应用于()A、确定轴性及切片方向B、区分晶质体及非晶质体C、测定光性符号D、测定光轴角的大小

考题 二轴晶光率体只有垂直光轴面方向的光率体切面是圆的。()

考题 简述一轴晶垂直光轴切面的干涉图形象特点如何?怎样利用它来测定光性?

考题 填空题二轴晶垂直光轴切面干涉图的用途有(),()和()。

考题 单选题(23)在一轴晶(-)中垂直光轴切面的干涉图,其波向图中放射线和切线的方向分别为()。A Ng和NmB Ng和NpC Nm和NmD Ne和No

考题 单选题在二轴晶矿物切片中,哪一个切面无干涉色()。A 平行光轴面的切面B 垂直光轴的切面C 斜切光轴的切面D 垂直Bxo的切面

考题 单选题在二轴晶垂直Bxo切面干涉图中其光轴面方向为()。A BxaB NmC NoD Np

考题 单选题在二轴晶(+)垂直Bxa切面干涉图中,光轴面光迹线上弯曲黑带内的光的光率体椭圆切面为()。A Ng-NmB Ng-NpC Nm-NmD Nm-Np

考题 问答题二轴晶垂直Bxa切面的干涉图形象特点如何?怎样利用它来测定光性?

考题 多选题二轴晶垂直Bxa切片干涉图一般应用于()A确定轴性及切片方向B区分晶质体及非晶质体C测定光性符号D测定光轴角的大小

考题 填空题一轴晶垂直光轴干涉图的形象特点是:视域中出现(),(),当双折射率较大或薄片较厚时,还具有以黑十字交点为中心的同心圆环,旋转物台360°,此干涉图不变。以此干涉图来测定光性,从Ⅱ-Ⅳ象限象限插入补色器,Ⅰ-Ⅲ象限象限干涉色升高为正光性

考题 多选题二轴晶光率体的切面包含以下哪几种?()A垂直光轴的切面B垂直bxa的切面C垂直光轴面的切面D平行光轴面的切面

考题 填空题某二轴晶矿物的Y晶轴与光率体主轴Ng一致,其最大双折率为0.009,薄片厚度为0.03mm,在平行(010)的切面上具有垂直Bxa切面的干涉图,此矿物应为(),光轴面上的干涉色为()。

考题 单选题在二轴晶矿物的切片中,哪一个方向的切面无干涉色()。A 平行光轴面的切面B 垂直光轴面的切面C 斜切光轴切面D 垂直Bxo切面

考题 问答题简述一轴晶垂直光轴切面的干涉图形象特点如何?怎样利用它来测定光性?

考题 单选题下面哪个不是二轴晶光率体的切面()A 垂直光轴的切面B 垂直bxa的切面C 垂直光轴面的切面D 平行光轴面的切面

考题 判断题光线垂直光轴入射光性一轴晶,双折射率为0。光线平行光轴入射,双折射率最大A 对B 错

考题 问答题一轴晶垂直光轴干涉图的形象特点是什么?

考题 判断题二轴晶垂直光轴切面的干涉图用途有:确定轴性、光性、切面方向和估计折射率的大小。A 对B 错

考题 填空题用垂直二轴晶二光轴()(Bxa)切面的干涉图测定光性时,将干涉图转至(),即()形黑臂置于(),插入补色器后,锐角区(即两黑臂之间)干涉色升高,晶体为()

考题 填空题当双折率很小时,一轴晶垂直光轴切面的干涉图由()组成,这样的切面而在单偏光镜下所产生的颜色由()的振动引起。

考题 问答题一轴晶垂直光轴干涉图怎样测量光性?

考题 判断题一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样,在轴性明确的情况下也不能用作光性正负的测定。A 对B 错

考题 填空题二轴晶光率体平行光轴面切片的干涉图特征是()。