实验证明微梯度的探测深度()微电位的探测深度。 A、小于B、相同于C、大于D、远大于

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实验证明微梯度的探测深度()微电位的探测深度。

A、小于

B、相同于

C、大于

D、远大于

参考答案

考题微球测井的探测深度受泥饼的影响()微侧向。 A、大于B、小于C、等于D、约等于

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考题微球测井是一种探测深度()的聚焦电法测井。 A、中等B、较深C、较浅D、特深

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考题微侧向测井的()较强,能较好地确定地层的有效厚度并较好地反映岩性变化。 A、探测深度B、分层能力C、电流D、电压

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考题微球测井的探测深度受泥饼影响要大于微侧向。() 此题为判断题(对，错)。

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考题微侧向测井的探测深度与微电极测井相似,约为50cm左右。() 此题为判断题(对，错)。

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考题微梯度的探测深度大于微电位的探测深度。() 此题为判断题(对，错)。

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考题实验证明微电位的探测范围为()。 A、小于4cmB、4～5cmC、5～8cmD、8～10cm

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考题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()。 A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度D、A和B

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考题微梯度电极系的探测深度小于微电位电极系。

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