网友您好， 请在下方输入框内输入要搜索的题目：
题目内容
（请给出正确答案）
● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。
（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB
参考答案
更多 “ ● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB ” 相关考题
考题
在软件生命周期的不同阶段，需要实施不同类型的测试工作，单元测试是对程序设计进行验证，其中___(39)___不是单元测试的主要内容。在进行单元测试过程中，通常测试工程师都需要借助___(40)___来代替所测模块调用的子模块：在单元测试的基础上，需要将所有模块按照概要设计和详细设计说明书的要求进行组装，模块组装成系统的方式有两种，分别是___(41)___。(39)A．模块接口测试 B．有效性测试 C．路径测试 D．边界测试(40)A．桩模块 B．驱动模块 C．桩模块和驱动模块 D．存根模块和驱动模块(41)A．一次性组装和增殖性组装 B．自顶向下组装和启底向上组装C．单个模块组装和混合模块组装 D．接口组装和功能组装
考题
● 审查测试设计是监理方质量控制的重要手段，根据常用的W模型测试策略，在需求分析与系统设计过程中，监理方应审查的相应测试设计为（39） 。（39）A．验收测试设计与性能测试设计B．用户测试设计与集成测试设计C．单元测试设计与集成测试设计D．确认测试设计与系统测试设计
考题
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A.JTAG技术是一种嵌入式测试技术B.大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
考题
某公司综合管理信息系统开发项目的WBS分解结构图如图7－5所示。其中①、②、③、④空应该依次填入（ ）。A．架构设计、模块测试、接口测试、集成测试 B．详细设计、黑盒测试、白盒测试、回归测试 C．架构设计、模块测试、功能测试、验收测试 D．详细设计、单元测试、集成测试、系统测试
考题
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A.JTAG技术为ARM公司专用，非ARM处理器不采用JTAG技术B.通过JTAG测试接口可对嵌入式处理器芯片进行测试、对系统进行仿真、调试C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
考题
在软件生命周期的不同阶段，需要实施不同类型的测试工作，单元测试是对程序设计进行验证，其中(39)不是单元测试的主要内容。在进行单元测试过程中，通常测试工程师都需要借助(40)来代替所测模块调用的子模块；在单元测试的基础上，需要将所有模块按照概要设计和详细设计说明书的要求进行组装，模块组装成系统的方式有两种，分别是(41)。A．模块接口测试B．有效性测试C．路径测试D．边界测试
热门标签
最新试卷