检波器的相位的选择应该以能够最有效地检出对比试件上的人工缺陷为好。() 此题为判断题(对，错)。

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检波器的相位的选择应该以能够最有效地检出对比试件上的人工缺陷为好。()

此题为判断题(对，错)。

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考题用任何方法作超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。（）此题为判断题(对，错)。

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考题单边带信号的解调应采用_____。A.包络检波器B.频率检波器C.同步检波器D.相位检波器

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考题单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。 A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、选择范围

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考题欲检出微小缺陷时,曝光量应选择在胶片特性曲线的哪个区域以获得较佳的对比度?() A、斜率大处B、斜率小处C、斜率不大不小处D、检出能力仅与试件特性有关，无法以适当曝光量的选择而改善

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考题如果容易地检出缺陷,涡流的流向要:()。 A、与缺陷的主平面共面B、与缺陷的主平面垂直C、与缺陷的主平面平行D、线圈中电流相位差90°

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考题进行涡流检测时,根据下列()种参数的变化可检出试件表面缺陷? A、检测线圈的阻抗B、激励信号的频率C、检测线圈的电压D、A或C

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考题标准试块与对比试块的不同主要表现在() A、须与所检工件及要求检出的缺陷一样B、经过权威机构检定认可C、不一定有人工缺陷D、外表面必须精磨光滑

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考题磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

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考题建筑幕墙性能检测中，发现由于试件的安装缺陷使某项性能未达到规定要求，最合理的处理是（）。 A.修改设计，修补试件缺陷后重新检测 B.改进试件安装工艺，修补缺陷后重新检测 C.修改设计,重新制作试件后重新检 D.更换材料,重新制作试件后重新检测

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