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对于OTDR上出现被测光纤是一个增益器的现象，建议大家用双向测试平均取值的办法来对该光纤进行测量。

参考答案

更多 “对于OTDR上出现被测光纤是一个增益器的现象，建议大家用双向测试平均取值的办法来对该光纤进行测量。” 相关考题
考题 OTDR测光纤长度时，测试范围应设置为光纤全长略长。此题为判断题(对，错)。
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考题 目前大部分光缆工程测试都采用OTDR（光时域反射计）进行光纤衰减的测试，OTDR通过检测来自光纤的背向散射光进行测试。这种情况下采用（ ）方法比较合适。A.双向测试B.单向测试C.环形测试D.水平测试
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考题 目前大部分光缆工程测试都采用OTDR（光时 域反射计）进行光纤衰减的测试，OTDR通过检 测来自光纤的背向散射光进行测试。这种情况 下采用（ ）方法比较合适。A. 双向测试 B. 单向测试 C. 环形测试 D. 水平测试
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考题 OTDR测试时，参数设定的最大距离刻度为可测光纤最长距离。
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考题 OTDR测试时产生的伪增益现象，其最直接的原因是因为接续点之后的光纤反射系数大于接续点前的光纤的反射系数。
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考题 OTDR测试产生伪增益现象时，说明接续点后的光纤比接续点之前的光纤发射系数大，并且说明接续点的接续损耗小，接续效果良好。
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考题 采用插入测量法、OTDR测量法测试光纤损耗，应采取双向测试取其平均值。
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考题 目前用OTDR测试光纤特性必须使用的方法是（）。A、线性测试法B、单向平均测试法C、平均测试法D、双向平均测试法
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考题 为解决光缆始端测试（）问题，应在被测光纤与OTDR之间介入一段辅助测试光纤。
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考题 OTDR仪表基本的测试操作步骤（）。A、选择测试参数B、把被测光纤接入OTDRC、开启OTDR激光器D、显示光纤链路背向散射曲线
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考题 用OTDR测光纤时，纤芯折射率影响（）测试结果A、光纤损耗值B、接头损耗C、光缆损耗D、光纤长度
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考题 OTDR测试曲线中，有时出现后端散射功率高于前端的情况，说明部分光纤具有增益。
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考题 下列不属于OTDR仪表存在的固有误差的是（）。A、测试盲区B、动态范围C、测试中的“增益”现象D、末端鬼影
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考题 OTDR仪表基本的测试操作步骤（）。A、选择测试参数；B、把被测光纤接入OTDR；C、开启OTDR激光器；D、显示光纤链路背向散射曲线；E、判断分析曲线；
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考题 在光纤连接损耗现场测试时，（）只能得到一个估算值。A、熔接机测试B、OTDR测试C、光源和光功率计测量D、远端环回双向监测
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考题 在OTDR曲线上可能会产生（）。该现象是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。A、正增现象B、正增益现象C、负增益现象D、正溢现象
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考题 OTDR仪表基本的测试操作步骤（）A、选择测试参数B、把被测光纤接入OTDRC、开启OTDR激光器D、显示光纤链路背向散射曲线E、判断分析曲线
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考题 OTDR测试中，常见的一些问题有（）（）（）和（）的现象等。A、光纤类型不匹配B、伪增益现象C、减小盲区D、消除幻峰
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考题 在OTDR曲线上可能会产生（　）。该现象是由于熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成。A、正增现象B、正增益现象C、正溢现象
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考题 减小反射峰的措施：OTDR的输出应经常清洗，每次测试都必须清洗被测光纤端面（包括不与OTDR连接的端面），处理好光纤端面。
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考题 简述OTDR测接头损耗时为什么会出现伪增益现象？
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考题 在OTDR曲线上可能会产生（　）。该现象是由于熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成。A、负增益现象B、正增现象C、正增益现象D、正溢现象
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考题 OTDR测试中，常见的一些问题有（）的现象等。A、光纤类型不匹配B、伪增益现象C、减小盲区D、消除幻峰
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考题 OTDR测试时，以下（）情况的测试容易产生鬼影现象。A、短距离测试B、长距离测试C、多模光纤测试D、单模光纤测试
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考题 单选题目前用OTDR测试光纤特性必须使用的方法是（）。A 线性测试法B 单向平均测试法C 平均测试法D 双向平均测试法
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考题 填空题为解决光缆始端测试（）问题，应在被测光纤与OTDR之间介入一段辅助测试光纤。
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考题 单选题在OTDR曲线上可能会产生（）。该现象是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。A 正增现象B 正溢现象C 负增益现象D 正增益现象
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