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色谱峰的半峰宽能反映出()。

  • A、汽化温度是否适宜
  • B、组分在柱中的分配情况
  • C、进样量的大小
  • D、检测器的灵敏度

参考答案

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考题 色谱法中主要用于色谱柱柱效评价的是()。A、保留时间B、半高峰宽C、峰宽D、峰高E、峰面积

考题 色谱峰变宽,表明A、气化室污染B、气化室漏气C、进样速度太慢D、色谱柱污染E、检测器污染

考题 气相色谱法中,色谱峰的保留时间说明( )。A、各组分在色谱柱中的扩散情况B、各组分在流动相和固定相之间的分配情况C、各组分在色谱柱中的浓度分布情况D、各组分在固定相上的吸附情况E、各组分在色谱柱中的分配情况

考题 色谱峰变宽,表明( )。A、汽化室污染B、汽化室漏气C、进样速度太慢D、色谱柱污染E、检测器污染

考题 因为高效液相色谱柱是消耗品,随着使用时间或进样次数的增加,当出现色谱峰高降低,峰宽加大或出现肩峰时,一般来说可能是()下降。 A.压力B.柱效C.吸收量D.进样量

考题 色谱仪柱箱温度过低造成的可能后果是()。A.分离效果变差B.峰宽加大C.峰拖尾D.检测器灵敏度下降

考题 色谱峰的半峰宽能反映出()。A.汽化温度是否适宜B.组分在柱中的分配情况C.进样量的大小D.检测器的灵敏度

考题 在气相色谱法中,可用作定量的参数是( )。A、保留时间B、相对保留值C、半峰宽D、峰面积E、进样量

考题 色谱峰变宽,表明A.汽化室污染 B.汽化室漏气 C.进样速度太慢 D.色谱柱污染 E.检测器污染

考题 对同一样品,程序升温色谱与恒温色谱比较,正确的说法是()。A程序升温色谱图中的色谱峰数与恒温色谱图中的色谱峰数相同B程序升温色谱图中的色谱峰数大于恒温色谱图中的色谱峰数C改变升温程序,各色谱峰保留时间改变但峰数不变D程序升温色谱法能缩短分析时间,改变保留时间、峰形,从而改善分离度及提高检测灵敏度,峰数也可能改变,并且使样品中的各组分在适宜的柱温下

考题 工业气相色谱分析仪进样后色谱柱流出物通过检测器时产生的响应信号对时间或载气流出体积的关系曲线图称为()。A、色谱图B、色谱峰C、色谱峰宽D、色谱基线

考题 ()不是出现前延(伸舌)色谱峰的原因。A、进样量超柱负荷B、气化室温度太高C、两峰同时出现D、载气流速太低

考题 根据色谱峰的位置及其半峰宽的大小,可评价色谱柱柱效的高低。

考题 ()是出现圆头峰的原因。A、进样量小B、柱温稍有变化C、进样量超过检测器线性范围D、检测系统灵敏度太高

考题 色谱仪柱箱温度过低造成的可能后果是()。A、分离效果变差B、峰宽加大C、峰拖尾D、检测器灵敏度下降

考题 色谱峰展宽是由于柱内外各种因素引起的色谱峰增宽和变形,从而造成色谱柱效的降低,色谱峰展宽可分为()展宽和()展宽。()是指由于进样部位死体积、柱和检测器之间连接管道的死体积以及检测器本身的体积等柱外因素影响引起的峰展宽,()是指由于柱填充的类型和物质、填充物的粒度、流动相流速等柱内因素引起的峰展宽。

考题 范第姆特方程式主要说明()。A、板高的概念B、色谱峰扩张C、柱效率降低的影响因素D、组分在两相间的分配情况E、色谱分离操作条件的选择F、被测组分在色谱柱中的色谱行为

考题 对某一组分来说,在一定的柱长下,色谱峰的宽或窄主要决定于组分在色谱柱中的扩散速度。

考题 气相色谱仪在使用中若出现峰不对称,应如何排除()。A、减少进样量B、增加进样量C、减少载气流量D、确保汽化室和检测器的温度合适

考题 色谱系统进样量太大,色谱柱超负荷或柱温太低,进样技术不佳,是产生色谱()的主要原因。A、拖尾峰B、前伸峰C、圆头峰D、平头峰

考题 色谱分析样品时,第一次进样得到3个峰,第二次进样时变成4个峰,原因可能是:()A、(进样量太大)B、(汽化室温度太高)C、(纸速太快)D、(衰减太小)

考题 个色谱峰的半峰宽反映了各组分在色谱柱中的()情况,它由色谱过程中的()因素控制,其相应的理论为()。各个色谱峰的保留时间反映了各组分在两相间的()情况,它由色谱过程中的()因素控制,其相应的理论为()。

考题 升高柱温,增加进样量和加快记录仪纸速都可以使色谱峰的半峰宽变宽。

考题 单选题在气相色谱法中,可用作定量的参数是()A 保留时间B 相对保留值C 半峰宽D 峰面积E 进样量

考题 单选题色谱峰变宽,表明()。A 汽化室污染B 汽化室漏气C 进样速度太慢D 色谱柱污染E 检测器污染

考题 单选题气相色谱法中,色谱峰的保留时间反映(  )。A 各组分在色谱柱中的浓度分布情况B 各组分在色谱柱中的扩散情况C 各组分在固定相上的吸附情况D 各组分在流动相和固定相之间的分配情况E 各组分在色谱柱中的分配情况

考题 判断题升高柱温,增加进样量和加快记录仪纸速都可以使色谱峰的半峰宽变宽。A 对B 错