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使用电光分析天平时，标尺刻度模糊，这可能是因为（）。

  • A、物镜焦距不对
  • B、盘托过高
  • C、天平放置不水平

参考答案

更多 “使用电光分析天平时，标尺刻度模糊，这可能是因为（）。A、物镜焦距不对B、盘托过高C、天平放置不水平” 相关考题
考题 电光分析天平调节零点的部件是()。 A、重心调节螺丝B、平衡调节螺丝C、水平仪D、盘托
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考题 在理化检验实验室中，称取0.001 00g基准物质时，最好使用哪种天平A、架盘天平B、扭力天平C、1‰的分析天平D、1/万的分析天平E、1/10万的分析天平
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考题 用电光分析天平称量时,若微缩标尺的投影向左偏移,天平指针也是向左偏移。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 使用电光分析天平时，标尺刻度模糊，这可能是因为( )A.物镜焦距不对B.盘托过高C.天平放置不水平D.重心铊位置不合适
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考题 电光分析天平使用前的操作检查内容主要包括:先调天平的“水平度”,在检查调节天平的“零点”,然后检查调节天平的感量。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 机械天平(电光分析天平)调节零点，即观察投影屏上的刻度线是否与缩微标尺上的()刻度相重合。A.0.0gB.0.0mgC.0.00gD.0.00mg
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考题 使用电光分析天平时，灵敏度太高或太低，这可能是因为( )。A、标尺不在光路上B、物镜焦距不对C、聚焦位置不正确D、重心铊位置不合适
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考题 分析天平的停动旋纽控制的微动开关的接触点接触不良会引起等臂双盘电光天平（）。A.指数盘失盘B.指针跳动C.灯泡不亮D.读数不准
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考题 关于分析天平的使用描述不正确的是（）。A、分析天平称量前应检查和调节天平的水平状态B、热的或过冷的物体称量前，应先在干燥器中放置至室温C、做同一实验中，应尽量使用不同天平，以减小误差D、分析天平称量时，切忌超载
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考题 天平的种类有：托盘天平、工业天平、阻尼分析天平、电光分析天平、单盘天平和扭力天平。（）
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考题 单盘电光分析天平的感量为（），适于作（）。
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考题 （）不能排除“天平启动后指针不摆或摆动不自如，电光天平的标尺时动时不动或摆到某一位置突然受阻”的故障。A、调节感量螺丝B、使天平底座水平C、调节盘托螺丝，降低高度D、使阻尼器内外筒缝隙均匀
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考题 不会影响标尺刻度清晰度的是（）。A、物镜焦距不对B、侧门未关C、标尺不在光路上D、反射镜角度不对
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考题 使用电光分析天平时，标尺刻度模糊，这可能是因为（）。A、物镜焦距不对B、盘托过高C、天平放置不水平D、重心铊位置不合适
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考题 使用电光分析天平时，投影屏光亮不足，这可能是因为（）。A、空气阻力内外相碰B、天平放置不水平C、聚焦位置不正确D、被称量物体温度与室温不一样
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考题 分析天平按结构进行分类，一般可分为（）。A、等臂天平和不等臂天平B、单盘天平及双盘天平C、托盘天平及微量天平D、阻尼天平、半自动电光天平及全自动电光天平
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考题 单盘天平的标尺刻度模糊甚至无标尺线，可能产生的原因是（）。A、物镜位置不对B、棱镜架位置不对C、光源灯光与聚光管轴不重合D、聚光管位置不适当
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考题 水分测定时应该选择精度等级合适的天平，下列可以选用的天平是（）A、架盘天平B、万分之一电子天平C、千分天平D、电光分析天平
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考题 机械天平（电光分析天平）读数时，小数点后一、二位应读（）对应的数值。A、砝码B、圈码C、微分标尺D、砝码+圈码
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考题 半自动电光分析天平，1g以下的砝码由指数盘操纵自动加取。（）
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考题 半自动电光分析天平，（）砝码由指数盘操纵自动加取。
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考题 自动电光分析天平的大小砝码全部由指数盘操纵自动加取。（）
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考题 单选题关于分析天平的使用描述不正确的是（）。A 分析天平称量前应检查和调节天平的水平状态B 热的或过冷的物体称量前，应先在干燥器中放置至室温C 做同一实验中，应尽量使用不同天平，以减小误差D 分析天平称量时，切忌超载
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考题 判断题自动电光分析天平的大小砝码全部由指数盘操纵自动加取。（）A 对B 错
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考题 填空题半自动电光分析天平，（）砝码由指数盘操纵自动加取。
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考题 单选题使用电光分析天平时，零点、停点、变动性大，这可能是因为（）。A 标尺不在光路上B 侧门未关C 盘托过高D 灯泡接触不良
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考题 填空题单盘电光分析天平的感量为（），适于作（）。
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