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光通道衰减测试方法有()

  • A、剪断法
  • B、前向散射法
  • C、后向散射法
  • D、介入损耗法

参考答案

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考题 在入户光缆布放完毕后,为确保光分配网(ODN)的光通道衰减值,不必对光链路进行测试。 A.错误B.正确

考题 现场测试方法适用于验收时对已开通的直放站进行现场在线测试。完成现场测试需要的基本仪表有:() A.频谱仪(带扫频源)B.衰减器C.sitemasterD.光功率计

考题 光通道衰减是再生段S、R点之间的衰减,光通道衰减测试方法有()基准方法是,第一替代方法是,第二替代方法是。 A.剪断法B.后向散射法C.前向散射法D.介入损耗法

考题 光缆线路工程中,用于光纤通道总衰减测试的仪器包括( )。A.光时域反射仪B.光功率计C.光源D.偏振模色散测试仪E.高阻计

考题 目前大部分光缆工程测试都采用OTDR(光时域反射计)进行光纤衰减的测试,OTDR通过检测来自光纤的背向散射光进行测试。这种情况下采用( )方法比较合适。A.双向测试B.单向测试C.环形测试D.水平测试

考题 目前大部分光缆工程测试都采用OTDR(光时 域反射计)进行光纤衰减的测试,OTDR通过检 测来自光纤的背向散射光进行测试。这种情况 下采用( )方法比较合适。A. 双向测试 B. 单向测试 C. 环形测试 D. 水平测试

考题 用于光纤通道总衰减测试的仪器包括( )。A.光时域反射仪 B.光功率计 C.光源 D.偏振模色散测试仪 E.高阻计

考题 下列关于光纤通道总衰减说法正确的是() A.总衰减等于光纤线路的自身衰耗与光纤接头衰耗之和 B.应使用稳定的光源和光功率计测试 C.测试结果应取双向测试的算术平均值 D.可以使用OTDR测试

考题 关于光纤通道总衰减的说法,正确的是A.总衰减等于光纤线路自身损耗与光纤接头损耗之和 B.应使用稳定光源和光功率计测试 C.结果应取双向测量平均值 D.可使用otdr测试

考题 光缆中继段测试中使用稳定光源和光功率计进行的测试项目是( )。A.光纤线路衰减系数(dB/km)及传输长度测试 B.光纤通道总衰减测试 C.光纤后向散射曲线测试 D.偏振模色散PMD测试

考题 光纤的衰减测试中,用光源光功率计测试的方法叫背向散射法。

考题 对于相相耦合通道,测完通道衰减后,无需作单相衰减的测试。

考题 用光源和光功率计测试光中继段光纤衰减的方法包括()。A、随工检测B、剪断法C、介入法D、用OTDR测试E、在光纤熔接机上直接显示

考题 光通道衰减是再生段S、R点之间的衰减,光通道衰减测试方法有()基准方法是,第一替代方法是,第二替代方法是。A、剪断法B、后向散射法C、前向散射法D、介入损耗法

考题 光纤衰减测试方法有()、()、(),其中基准方法是()。

考题 ODN光通道衰减所允许的衰减定义为S/R和R/S参考点之间的光衰减,包括()所引入的衰减总和。A、光纤B、光分路器C、光活动连接器D、光纤熔接接头

考题 根据《YD5121-2010通信线路工程验收规范》中继段光纤通道总衰减应采用稳定的电源和()经过连接器测量总衰减值应符合设计规定测量值应记入中继段测试记录A、光功率计B、OTDR测试仪C、光纤熔接机D、光话机

考题 光路全程测试时,全程链路测试数据可略大于设计中计算的光通道衰减核算指标。

考题 现场测试方法适用于验收时对已开通的直放站进行现场在线测试。完成现场测试需要的基本仪表有:()A、频谱仪(带扫频源)B、衰减器C、sitemasterD、光功率计

考题 在入户光缆布放完毕后,为确保光分配网(ODN)的光通道衰减值,不必对光链路进行测试。

考题 多选题现场测试方法适用于验收时对已开通的直放站进行现场在线测试。完成现场测试需要的基本仪表有:()A频谱仪(带扫频源)B衰减器CsitemasterD光功率计

考题 多选题用于光纤通道总衰减测试的仪器包括( )。A光时域反射仪B光功率计C光源D偏振模色散测试仪E高阻计

考题 单选题根据《YD5121-2010通信线路工程验收规范》中继段光纤通道总衰减应采用稳定的电源和()经过连接器测量总衰减值应符合设计规定测量值应记入中继段测试记录A 光功率计B OTDR测试仪C 光纤熔接机D 光话机

考题 单选题光缆中继段测试中使用稳定光源和光功率计进行的测试项目是( )。A 光纤线路衰减系数(DB/km)及传输长度测试B 光纤通道总衰减测试C 光纤后向散射曲线测试D 偏振模色散PMD测试

考题 多选题光通道衰减是再生段S、R点之间的衰减,光通道衰减测试方法有()基准方法是,第一替代方法是,第二替代方法是。A剪断法B后向散射法C前向散射法D介入损耗法

考题 多选题2013真题:使用ODTR可以测试的项目有( )。A光纤衰减系数B后向散射曲线CPMD测试D传输长度E光纤通道总衰减

考题 判断题光路全程测试时,全程链路测试数据可略大于设计中计算的光通道衰减核算指标。A 对B 错