考题
在安全设施的种类中，下列不属于控制事故设施的是（ ）。
考题
AC/A值是指每使用1D的调节所引起的（）的棱镜量。A、近感知性聚散B、调节性聚散C、融像性聚散D、张力性聚散
考题
测量融像性聚散的过程中，没有出现模糊点，直接分开成两个，说明哪种聚散没有参与（）。A、调节性聚散B、融像性聚散C、近感知性聚散D、张力性聚散
考题
以下关于聚散的分类，描述错误的是（）。A、远感知性聚散B、近感知性聚散C、调节性聚散D、融像性聚散
考题
梯度性AC/A值时测量患者在进行调节刺激与调节放松时，（）的改变率。A、张力性聚散B、近感知性聚散C、调节性聚散D、融像性聚散
考题
使用综合验光仪进行聚散测试主要包括（）。A、集合幅度的测试B、融像储备测试C、相对聚散和融像性聚散测试D、集合幅度的测试、融像储备测试、相对聚散和融像性聚散测试
考题
为了维持良好的融像，内隐斜的患者，需要（）对眼位给予补正。A、正融像性聚散B、负融像性聚散C、近感知性聚散D、调节性聚散
考题
在聚散中受到调节量影响的聚散是哪种（）。A、融像性聚散B、近感知性聚散C、调节性聚散D、张力性聚散
考题
融像性聚散包括哪几种？（）A、正融像性聚散B、负融像性聚散C、正相对融像性聚散D、负相对融像性聚散
考题
融像性聚散的测量中，模糊点代表（）用完了。A、调节性聚散B、融像性聚散C、全部聚散D、全都不是
考题
下面不属于水石盆景立面布局的形式是（）。A、象形式B、斜山式C、聚散式D、横山式
考题
下列不属于BIOS芯片种类的是（）。A、ROMB、FlashROMC、EPROM、EEPROMD、SRAM
考题
单选题为了维持良好的融像，内隐斜的患者，需要（）对眼位给予补正。A
正融像性聚散B
负融像性聚散C
近感知性聚散D
调节性聚散
考题
单选题以下关于聚散的分类，描述错误的是（）。A
远感知性聚散B
近感知性聚散C
调节性聚散D
融像性聚散
考题
单选题梯度性AC/A值时测量患者在进行调节刺激与调节放松时，（）的改变率。A
张力性聚散B
近感知性聚散C
调节性聚散D
融像性聚散
考题
多选题在聚散中受到调节量影响的聚散是哪种（）。A融像性聚散B近感知性聚散C调节性聚散D张力性聚散
考题
单选题负相对调节与融像性聚散的关系（）。A
双眼前加负镜片，刺激调节，调节性聚散增加，在需求量不变的情况下，融像性聚散减少B
双眼前加负镜片，放松调节，调节性聚散增加，在需求量不变的情况下，融像性聚散减少C
双眼前加正镜片，放松调节，调节性聚散减少，在需求量不变的情况下，融像性聚散增加D
双眼前加正镜片，刺激调节，调节性聚散增加，在需求量不变的情况下，融像性聚散增加
考题
多选题融像性聚散包括哪几种？（）A正融像性聚散B负融像性聚散C正相对融像性聚散D负相对融像性聚散
考题
单选题使用综合验光仪进行聚散测试主要包括（）。A
集合幅度的测试B
融像储备测试C
相对聚散和融像性聚散测试D
集合幅度的测试、融像储备测试、相对聚散和融像性聚散测试
考题
单选题内隐斜的分析主要看（）。A
负融像性聚散模糊点B
负融像性聚散恢复点C
正融像性聚散恢复点D
正融像性聚散模糊点
考题
单选题计算性AC/A数值通常来说会比梯度性AC/A数值要高，是什么的改变影响了这个结果？（）A
张力性聚散B
近感知性聚散C
调节性聚散D
融像性聚散
考题
填空题正负聚散力的合量为聚散力，又称（）储备。
考题
单选题测量融像性聚散的过程中，没有出现模糊点，直接分开成两个，说明哪种聚散没有参与（）。A
调节性聚散B
融像性聚散C
近感知性聚散D
张力性聚散
考题
单选题下列不属于聚散的种类的是（）。A
融像性聚散B
集合性聚散C
调节性聚散D
张力性聚散
考题
单选题融像性聚散的测量中，模糊点代表（）用完了。A
调节性聚散B
融像性聚散C
全部聚散D
全都不是
考题
单选题AC/A值是指每使用1D的调节所引起的（）的棱镜量。A
近感知性聚散B
调节性聚散C
融像性聚散D
张力性聚散